Koncepcja parametryczna w ZEISS INSPECT

Zwiększenie produktywności

ZEISS INSPECT wykonuje pracę za użytkownika

Parametryczna funkcjonalność ZEISS INSPECT pozwala automatycznie zapisywać każdy pojedynczy krok inspekcji. Wszystkie kroki są identyfikowalne, powtarzalne oraz edytowalne. Dzięki parametryzacji nie ma konieczności tworzenia nowego planu pomiarowego dla kolejnej części z tej samej serii - wyniki są dostarczane od razu po załadowaniu nowych danych pomiarowych do projektu. Oprogramowanie natychmiast przelicza wyniki automatycznie.

Identyfikowalność

ZEISS INSPECT umożliwia śledzenie obliczeń wyników inspekcji. Pasywne obliczenia parametryczne pokazują zależności między różnymi elementami.

Można na przykład dowiedzieć się, która zasada pomiarowa została użyta w danej analizie. Można również zobaczyć, które punkty określają płaszczyznę i jak dokładnie te punkty są skonstruowane.

Tworzenie szablonów projektu

Za pomocą szablonów projektu możesz z łatwością przenieść ocenę na inne części. Każdy pojedynczy krok jest zapisywany w szablonie projektu, a następnie wykonywany dla nowej części. Możliwe jest także zapisanie inspekcji jako szablon projektu i wykorzystanie tego samego procesu inspekcji ponownie. Wszystkie procesy oceny są wykonywane bez ingerencji w skrypty, wcześniejszego planowania czy interwencji użytkownika.

Porównanie kilku części

Analizy trendu umożliwiają porównanie kilku części w jednym projekcie. Do analizy trendu i statystycznej kontroli procesu można użyć kilku etapów. Ocena zawiera statystyczne mapy odchyłek dla zakresu i sigma. Widoczne są także parametry SPC. Ponadto trend jest wizualizowany w formie tabel i wykresów.

Jeszcze więcej funkcji ZEISS INSPECT

Zobacz podsumowanie najpopularniejszych funkcji ZEISS INSPECT:
od importu CAD po różne inspekcje i raportowanie. Czy znasz już je wszystkie?

Dowiedz się więcej