Interaktywne raporty w ZEISS PiWeb

Interaktywna nawigacja po danych dotyczących jakości

Interaktywne raporty w ZEISS PiWeb

W standardowych raportach często trudno znaleźć takie wyniki, jakich naprawdę potrzebujesz. Dzięki ZEISS PiWeb otrzymujesz interaktywne raporty, dzięki którym wyszukiwanie odpowiednich informacji jest intuicyjne i łatwe.

Szczegółowe raporty: dogłębna analiza danych

Od całościowego obrazu po szczegóły i wszystko co pomiędzy, połączone raporty mogą rozbić dane dotyczące jakości na najdrobniejsze szczegóły. Użytkownicy mogą naprawdę „zgłębić” swoje dane - od kluczowych wskaźników wydajności produkcji wysokiego poziomu po pojedyncze wartości pomiarowe w celu szybkiej identyfikacji obszarów problematycznych.

Panele statystyczne

Oszczędzaj czas tworząc uniwersalne raporty, które można zastosować do kilku lub nawet wszystkich części w procesie produkcyjnym. Na przykład utwórz panel statystyczny ze wszystkimi odpowiednimi analizami statystycznymi i po prostu wybierz część i dane, które chcesz ocenić, aby jeszcze bardziej przyspieszyć proces oceny.

Interaktywny CAD

Dzięki ZEISS PiWeb można bezpośrednio zintegrować model CAD z raportem, dzięki czemu użytkownicy będą mogli szybko połączyć wyniki dotyczące jakości z ich częściami. Model CAD także jest interaktywny.

Interaktywne raporty w produkcji

Często zarządzanie jakością i produkcja to dwa różne światy. Pomóż połączyć je poprzez interaktywne raporty. Możesz tworzyć raporty, które zapewniają operatorom na produkcji przejrzysty przegląd wyników jakościowych poprzez integrację rysunków z odnośnikami z wynikami pomiarów.

Skontaktuj się nami i omów indywidualną prezentację

Wczytywanie formularza...

Bezpłatna 90-120 minutowa sesja obejmuje:

  • Prezentację najistotniejszych funkcjonalności ZEISS PiWeb
  • Demonstrację pracy ZEISS PiWeb na żywo
  • Dostępne konfiguracje i sugerowane opcje dostosowane do Twoich potrzeb wraz z ofertą cenową

Jeśli chcesz dowiedzieć się więcej o przetwarzaniu danych przez ZEISS, zobacz informacje o ochronie danych.