Laboratorium mikroskopowe w sieci

Przyspieszone podejmowanie decyzji

Seria mikroskopów przemysłowych

170 lat doświadczenia i niezrównane możliwości przetwarzania danych we wszystkich urządzeniach: Dzięki kompleksowemu portfolio rozwiązań do mikroskopii przemysłowej zorientowanych na zastosowania i połączonych w sieć, firma ZEISS pomaga przekształcać zgromadzone dane w użyteczne informacje i szybciej podejmować właściwe decyzje.

Od analizy obrazu do wydajności

Przetwarzanie danych bez ograniczeń

ZEISS w zakresie mikroskopii przemysłowej wspiera nieustannie swoich klientów w ciągłym generowaniu i wykorzystywaniu danych mikroskopowych oraz zarządzaniu nimi w środowiskach wielu użytkowników, w różnych działach, bazując na danych pochodzących z różnych systemów mikroskopowych.

Umożliwia to działanie niezależne od użytkownika, analizę trendów i głębszy wgląd poprzez łączenie wyników dotyczących różnych wymiarów, na różnych etapach, oraz udostępniania danych. Rezultat: większa produktywność i większe bezpieczeństwo w różnych zastosowaniach mikroskopii przemysłowej.

  • Dopuszczenie/niedopuszczenie w kontroli wzrokowej
  • Identyfikacja usterek i awarii oraz określenie ich pierwotnej przyczyny
  • Charakterystyka chropowatości i topografii
  • Śledzenie zanieczyszczenia cząstkami
  • Identyfikacja odchyleń w krytycznych wymiarach geometrycznych

Inteligentne zarządzanie danymi

w laboratorium połączonym w sieci

Znormalizowany interfejs użytkownika ZEN core pozwala użytkownikom obsługiwać mikroskopy w ten sam sposób, niezależnie od wyboru, od mikroskopów stereoskopowych po w pełni zautomatyzowane systemy wysokiej klasy. Zaawansowany pakiet oprogramowania umożliwia korelację mikroskopii optycznej i elektronowej w wielozadaniowych procesach pracy i zapewnia łączność między systemami, wydziałami, laboratoriami i lokalizacjami. ZEN core obsługuje więcej niż tylko obrazowanie mikroskopowe. Jest to najbardziej wszechstronny zestaw narzędzi do obrazowania, segmentacji, analizy i łączenia danych dla mikroskopii wielomodalnej w połączonych laboratoriach materiałowych.

Workflow-oriented

ZEN core enables a workflow-oriented quality assurance for microscopy applications through dedicated
software modules for application fields such as technical cleanliness analysis and job templates for automated image quantification.

Mobile Access

ZEN Data Explorer allows access to all data on the central ZEN Data Storage from any place via mobile device or browser.

Reliable Data Storage

The central database for secure data handling and documentation offers a scalable central storage solution for results, methods, and templates.

Correlation and Connectivity

Through its correlative data output, ZEN core allows quick and easy re-localization of area of interests across different imaging methods and microscope technologies.

Third-Party Import

Users can integrate and process third-party images, even from third-party microscopes.

Applications for Industrial Microscopy Systems

Workflow-oriented solutions for efficient quality analysis

ZEISS delivers the broadest range of solutions for industrial applications in various industrial segments: electronics, automotive, aerospace, medical equipment and additive manufacturing. Partner with us to solve your specific technological problems, advance your processes and minimize your time-to-result using our comprehensive microscopy portfolio and targeted software solutions. Achieve high quality imaging with our unique microscopy solutions using light, X-Ray and electron imaging modalities.

Failure Analysis and Metallography

Determining the root cause of failure

The Challenge

Metallography reveals the internal structure of materials. In case something does not go as planned, failure analysis is needed to inspect, analyze, and document the failure to reveal the underlying root cause. 

Your benefit with ZEISS

Faster time-to-result through workflow-oriented software and correlation of results with ZEN core.

Visual Inspection

Fast and repeatable

The Challenge

Optical inspection offers manufacturers the ability to catch and stop errors the moment they appear. It relies on fast and repeatable images and reliable documentation at the shop floor and in quality departments.

Your benefit with ZEISS

ZEISS offers the right microscopy solution for every inspection application: Light microscopes, Scanning electron microscopes and X-Ray microscopes.

Optical Measurement

Precise metrology at a microscopic scale

The Challenge

As production technology progresses, manufacturing tools are able to produce features with ambitious tolerances on work pieces. To assure the quality of these products and components, manufacturers need to measure in dimensions smaller than a human eye can see.

Your benefit with ZEISS

ZEISS’s unmatched experience in microscopy and its extensive know-how in metrology delivers accurate results with a broad range of microscope types.

Surface Characterization

3D topography and roughness

The Challenge

Finished and functional surfaces with a complex geometry need to be characterized for roughness and three-dimensional topography with highest precision.

Your benefit with ZEISS

Depending on the application requirement, ZEISS can offer tactile options in addition to class-leading microscopy solutions like the ZEISS LSM 900 MAT and ZEISS Smartproof 5.

Particle Analysis

Reliable quality assurance for technical cleanliness

The Challenge

The cleanliness of components and parts is at the center of most industrial manufacturing processes. Undiscovered particulate contamination may affect the performance, lifetime, and reliability of final products.

Your benefit with ZEISS

ZEISS enables you to make informed decisions about the root cause of contamination.

Więcej informacji dotyczących rozwiązań mikroskopowych ZEISS

ZEISS IMS Materialography Brochure EN

ZEISS IMS Materialography Brochure EN
pages: 19
file size: 5058 kB

ZEISS IMS Materialography Brochure PL PDF

ZEISS IMS Materialography Brochure PL PDF
pages: 36
file size: 36945 kB

ZEISS Industrial Microscopy Series - Brochure - EN

ZEISS Industrial Microscopy Series - Brochure - EN
pages: 13
file size: 550411 kB

ZEISS Microscopy solutions:

Interview with our experts

ZEISS X-Ray Tomography

Learn more about our computed tomography solutions.