ZEISS Skaningowy mikroskop elektronowy dla przemysłu:

Zobacz to, co niewidoczne.

Mikroskopy SEM dla przemysłu: Portfolio mikroskopii skaningowej elektronowej

ZEISS w ramach swojego portfolio skaningowych mikroskopów elektronowych może zaoferować oferuje szeroką gamę systemów do różnych zastosowań w dziedzinie przemysłowego zapewnienia jakości i analizy wad.

Więcej informacji, więcej możliwości. Analizy SEM dla przemysłu.

Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) jest wykorzystywana do niezwykle precyzyjnej analizy mikrostruktury komponentów, charakteryzującej się doskonałą głębią ostrości i wyższą rozdzielczością. Metoda ta generuje obrazy powierzchni próbki o bardzo dużym powiększeniu. Dodatkowo na SEM można wykonać spektroskopię rentgenowską z dyspersją energii (EDS), która umożliwia określenie składu chemicznego materiałów.

Rozwiązania dostosowane do Twoich potrzeb

Seria skaningowych mikroskopów elektronowych (SEM) firmy ZEISS

	Grupa produktów ZEISS EVO Standardowy system podstawowy	Grupa produktów ZEISS Sigma Zaawansowany system	Grupa produktów ZEISS GeminiSEM System wysokiej klasy	Grupa produktów ZEISS Crossbeam System najwyższej klasy z możliwością obsługi 3D
Rozdzielczość	at 1 kV: 9 nm	przy 1 kV: 1.3 nm	przy 1 kV: 0,8 nm	przy 1 kV: 1,4 nm
System	Konwencjonalny skaningowy mikroskop elektronowy przeznaczony do wymagających analitycznych procesów pracy EDS z łatwymi w użyciu opcjami oprogramowania	Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową do obrazowania wysokiej jakości i zaawansowanej mikroskopii analitycznej	Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową do najwyższych wymagań w zakresie obrazowania subnanometrowego, analizy i elastyczności próbek	Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową do wysokowydajnej analizy 3D i przygotowania próbek oraz wykorzystania lasera femtosekundowego
Korzyści	Obsługuje rutynowe aplikacje Podwójny kondensor zapewniający najlepsze wyniki w rutynowej analizie EDS Elastyczny, wydajny i niedrogi Inteligentna alternatywa dla stołowych mikroskopów SEM do analizy materiałów Krótki czas oczekiwania na wynik i wysoka wydajność	Dokładne, powtarzalne wyniki z dowolnej próbki Szybka i łatwa konfiguracja eksperymentu Technologia ZEISS Gemini Elastyczna detekcja dla wyraźnych obrazów Sigma 560 charakteryzuje się najlepszą w swojej klasie geometrią EDS	Najwyższa jakość obrazu i wszechstronność Zaawansowane tryby obrazowania Wysoka wydajność detekcji, wyjątkowa analityka Technologia ZEISS Gemini Szeroka gama detektorów zapewniająca optymalny zakres detekcji	Najlepsza rozdzielczość 3D w analizie FIB-SEM Dwie wiązki, jony i elektrony Narzędzie do przygotowywania próbek Korzyści z dodatkowego lasera femtosekundowego EDS, EBSD, WDS, SIMS i inne jako opcja Maksymalizuj wgląd w próbkę dzięki ukierunkowanej analizie w 3D
	ZEISS EVO	ZEISS Sigma	ZEISS GeminiSEM	ZEISS Crossbeam

Mikroskopy SEM firmy ZEISS: Rozwiązania mikroskopii dla przemysłu

Ewolucja optyki ZEISS Gemini
Szybka analiza uszkodzeń 3D. Korelacyjny przepływ pracy od ZEISS.
Wieloskalowa analiza materiałów w zaledwie czterech krokach.
Łatwa lokalizacja i nawigacja w SEM: ZEISS ZEN Connect
Przygotowanie i analiza akumulatorów półprzewodnikowych za pomocą ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam i ZEISS Orion

Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Technologia ZEISS Gemini dla przemysłu. ZEISS oferuje odpowiednie rozwiązanie dedykowane do każdego wyzwania. Obejrzyj film, aby zobaczyć jak rozwijała się technologia Gemini oraz poznać jej zalety.

Ewolucja optyki ZEISS Gemini
Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Obejrzyj film o naszym rozwiązaniu korelacyjnego przepływu pracy! Dowiedz się, jak łatwo można analizować dane w różnych technologiach dzięki rozwiązaniom ZEISS oraz jak uzyskać niezawodne i wydajne wyniki.

Szybka analiza uszkodzeń 3D. Korelacyjny przepływ pracy od ZEISS.
Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Jak wyglądają Twoje struktury makroskopowe? Jak znajdujesz obszary zainteresowania w dużej próbce? Jak uzyskujesz dostęp do tych obszarów zainteresowania (ROI)? I jak je dalej analizujesz?

Wieloskalowa analiza materiałów w zaledwie czterech krokach.
Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Organizuj, wizualizuj i wskazuj kontekst różnych obrazów mikroskopowych i danych dla tej samej próbki - wszystko w jednym miejscu. Korelację między obrazami w różnych skalach można nałożyć w obszarze roboczym i wykorzystać do łatwej nawigacji.

Łatwa lokalizacja i nawigacja w SEM: ZEISS ZEN Connect
Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Poprzez nieniszczącą inspekcję próbek możliwe jest określenie zmian w składzie, które wpływają na jakość i żywotność akumulatora. Rozwiązania mikroskopowe ZEISS dla przemysłu oferują nieniszczące analizy 3D w wysokiej rozdzielczości, a także analizy korelacyjne, które są ważne dla kontroli jakości.

Przygotowanie i analiza akumulatorów półprzewodnikowych za pomocą ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam i ZEISS Orion

Efektywna nawigacja ZEISS

ZEISS ZEN core to pakiet oprogramowania do połączonej mikroskopii i analizy obrazu. Oprogramowanie pozwala na pełną analizę za jednym podejściem: zapewnia jeden interfejs użytkownika dla wszystkich wyników mikroskopii. Zautomatyzowane procesy pracy za naciśnięciem przycisku zapewniają szybkie i niezawodne wyniki.

Rzut oka na mikroskopię korelacyjną.

ZEISS ZEN Connect.

Organizuj i wizualizuj różne obrazy mikroskopowe, aby łączyć dane multimodalne — wszystko w jednym miejscu. To otwarta platforma, która umożliwia szybkie przejście od ogólnych przeglądów do zaawansowanego obrazowania, nawet gdy używasz technologii innych firm. Dzięki ZEN Connect możesz nie tylko wyrównywać, nakładać i interpretować wszystkie dane obrazu. Możesz łatwo przesyłać próbki i dane obrazu między różnymi mikroskopami świetlnymi i elektronowymi.

ZEISS ZEN Connect umożliwia
korelacyjną prezentację obrazu z różnych typów mikroskopów (np. mikroskopów świetlnych i elektronowych) na połączonej mapie. Jest to bardzo przydatne w przypadku szczegółowych badań dużych obrazów przeglądowych, takich jak z ogniwami akumulatorowymi. Moduł umożliwia importowanie i korelację danych nieobrazowych, takich jak wyniki EDS. Kompatybilny z wiodącymi producentami systemów EDS.
Rzut oka na mikroskopię korelacyjną.

ZEISS ZEN Connect.

ZEN Connect zapewnia maksimum istotnych danych przy minimalnym wysiłku: wszystkie obszary zainteresowania są automatycznie pobierane po jednorazowym dopasowaniu i wyświetlane w kontekście. Możesz również organizować dane z wielu modalności. Wszystkie obrazy uzyskane za pomocą ZEN Connect mogą być zapisywane w dobrze ustrukturyzowanej bazie danych. Każdemu plikowi obrazu automatycznie nadawana jest indywidualnie zdefiniowana nazwa. Każdy nakładany obraz i powiązany z nim zestaw danych są łatwe do znalezienia, a użytkownicy mogą dodatkowo wyszukiwać typ mikroskopu za pomocą nowej funkcji filtrowania.

Wizualizowane gromadzenie danych:
obsługuje importowanie i dołączanie danych innych niż obrazy, takich jak raporty i opisy (pdf, pptx, xlsx, docx itp.).

Łatwa nawigacja:
kliknij obraz przeglądu, aby zbadać lub ponownie ocenić wszelkie ROI w pełnej nakładce obrazu.

Sprytniej. Z oszczędnością czasu.

ZEISS ZEN Intellesis.

W ZEISS ZEN Intellesis dzięki sprawdzonym technikom uczenia maszynowego, takim jak klasyfikacja pikseli lub głębokie uczenie, nawet użytkownicy niebędący ekspertami mogą uzyskać niezawodne, powtarzalne wyniki segmentacji. Wystarczy załadować obraz, zdefiniować klasy, oznaczyć piksele, wytrenować model i wykonać segmentację.

Oprogramowanie wystarczy wytrenować tylko raz na kilku obrazach, aby móc automatycznie segmentować partie setek obrazów. To nie tylko oszczędza czas, ale także zmniejsza zakres odchyleń związanych z oceną użytkownika. Wszystkie czasochłonne kroki segmentacji wielu podobnych obrazów są obsługiwane przez potężne algorytmy uczenia maszynowego.

ZEISS ZEN Intellesis
umożliwia identyfikację cząstek za pomocą uczenia maszynowego i zapewnia wyższą dokładność identyfikacji cząstek, uczenia się segmentacji obrazu i klasyfikacji obiektów.

Intellesis Object Classification
służy do dalszej klasyfikacji segmentowanych cząstek i sortowania ich na podtypy. Następnie te informacje można wykorzystać do zliczania cząstek według typu.
Sprytniej. Z oszczędnością czasu.

ZEISS ZEN Intellesis.

ZEN Intellesis ułatwia segmentację wielowymiarowych obrazów z wielu różnych źródeł obrazowania, w tym szerokokątnych, superrozdzielczych, fluorescencyjnych, bezetykietowych, konfokalnych, arkuszy świetlnych, elektronowych i rentgenowskich. Moduły ewaluacyjne ZEN umożliwiają automatyczne tworzenie raportów i pomiary zgodnie ze standardami przemysłowymi.

ZEN Intellesis stosuje innowacyjne podejście do klasyfikacji po segmentacji według typu. Zamiast patrzeć na poszczególne piksele, jak robiłoby to typowe rozwiązanie uczenia maszynowego, jego model klasyfikacji obiektów wykorzystuje ponad 50 zmierzonych właściwości na obiekt, aby je automatycznie rozróżnić i sklasyfikować. Na podstawie danych tabelarycznych ten proces klasyfikacji jest znacznie szybszy niż segmentacja wykonywana przez specjalnie trenowane głębokie sieci neuronowe.

Przykład grubości warstwy:
Nałożenie przekroju poprzecznego FIB warstw ogniw słonecznych CIGS: wynik z detektora Crossbeam 550 InLens (po prawej) i po segmentacji uczenia maszynowego ZEN Intellesis (po lewej).

ZEISS ZEN Intellesis stosowane jest do automatycznej segmentacji i lepszej analizy składników drugiej fazy w stali dwufazowej. Oprogramowanie zmienia sposób charakteryzowania materiałów i prowadzi do szybszych i bardziej wiarygodnych wyników.

Zespół ArcelorMittal Tubarão Dowiedz się więcej o historii klienta w broszurze SEM.