ZEISS GeminiSEM
Lider w swojej klasie pod względem uniwersalności zastosowania do różnego rodzaju próbek
Odkryj nieznane i spełnij najwyższe wymagania w zakresie obrazowania z ultra wysokimi rozdzielczościami, analityki i uniwersalności zastosowania do różnego rodzaju próbek dzięki emisji polowej SEM. System umożliwia analizę o wysokiej przepustowości, zapewniając jednocześnie doskonałą rozdzielczość przy niskim napięciu, dużej prędkości i wysokim prądzie wiązki.
ZEISS GeminiSEM dla przemysłu
Poznaj nową jakość w kontroli próbek.
System umożliwia analizę o dużej przepustowości, zapewniając jednocześnie doskonałą rozdzielczość przy niskim napięciu, dużej prędkości i wysokim prądzie wiązki. Szerokie pole widzenia i wyjątkowo przestronna komora pozwala analizować nawet bardzo duże próbki.
ZEISS GeminiSEM umożliwia efektywną analizę składu chemicznego i badanie orientacji kryształów struktury dzięki dwóm portom EDS położonym naprzeciwko siebie i konfiguracji EDS/EBSD w jednej płaszczyźnie. Polegaj na szybkim mapowaniu bez efektu cieniowania.
Dostosuj i zautomatyzuj swoje procesy: ZEISS oddaje do Twojej dyspozycji zautomatyzowane laboratorium do badania nagrzewania in situ i naprężeń mechanicznych, gdy trzeba przetestować materiały pod kątem ich wytrzymałości technicznych.
Obszary zastosowań w skrócie
- Analiza uszkodzeń elementów mechanicznych, optycznych i elektronicznych
- Analiza pęknięć i metalografia
- Charakterystyka powierzchni, mikrostruktury i urządzeń
- Rozkład składu i faz
- Określanie zanieczyszczeń i wtrąceń