Wysokiej klasy emisja polowa SEM

ZEISS GeminiSEM​

Lider w swojej klasie pod względem uniwersalności zastosowania do różnego rodzaju próbek

Odkryj nieznane i spełnij najwyższe wymagania w zakresie obrazowania z ultra wysokimi rozdzielczościami, analityki i uniwersalności zastosowania do różnego rodzaju próbek dzięki emisji polowej SEM. System umożliwia analizę o wysokiej przepustowości, zapewniając jednocześnie doskonałą rozdzielczość przy niskim napięciu, dużej prędkości i wysokim prądzie wiązki.

  • Najwyższa jakość obrazu i wszechstronność
  • Zaawansowane tryby obrazowania
  • Wysoka skuteczność, znakomita analityka 
  • Technologia ZEISS Gemini udoskonalana od ponad 25 lat
  • Najlepsze pokrycie przedziału rozdzielczości dzięki szerokiej gamie detektorów

ZEISS GeminiSEM dla przemysłu

Poznaj nową jakość w kontroli próbek.

System umożliwia analizę o dużej przepustowości, zapewniając jednocześnie doskonałą rozdzielczość przy niskim napięciu, dużej prędkości i wysokim prądzie wiązki. Szerokie pole widzenia i wyjątkowo przestronna komora pozwala analizować nawet bardzo duże próbki. ​

ZEISS GeminiSEM umożliwia efektywną analizę składu chemicznego i badanie orientacji kryształów struktury dzięki dwóm portom EDS położonym naprzeciwko siebie i konfiguracji EDS/EBSD w jednej płaszczyźnie. Polegaj na szybkim mapowaniu bez efektu cieniowania. ​

Dostosuj i zautomatyzuj swoje procesy: ZEISS oddaje do Twojej dyspozycji zautomatyzowane laboratorium do badania nagrzewania in situ i naprężeń mechanicznych, gdy trzeba przetestować materiały pod kątem ich wytrzymałości technicznych. ​

Obszary zastosowań w skrócie

  • Analiza uszkodzeń elementów mechanicznych, optycznych i elektronicznych​
  • Analiza pęknięć i metalografia
  • Charakterystyka powierzchni, mikrostruktury i urządzeń
  • Rozkład składu i faz​
  • Określanie zanieczyszczeń i wtrąceń​

Więcej o ZEISS GeminiSEM w naszych filmach

  • Eksperymenty z nagrzewaniem i rozciąganiem | In situ dla ZEISS FE-SEM

    Obejrzyj najnowszy film o przepływie pracy i dowiedz się, jak przeprowadzać zautomatyzowane badania nagrzewania in situ i rozciągania we wsparciu In Situ Lab
  • Rodzina ZEISS GeminiSEM: FE-SEM dla doskonałego obrazowania i bezproblemowej analizy

    Trzy nowe modele z rodziny ZEISS GeminiSEM do wyboru dla badaczy z różnych dziedzin: od materiałoznawstwa po nauki biologiczne. Trzy wyjątkowe projekty optyki elektronowej Gemini i duża, elastyczna nowa komora spełniają wszystkie Twoje potrzeby w zakresie obrazowania i analiz.

Obrazowanie i analiza materiałów w bateriach litowo-jonowych

  • Materiały katodowe w przemyśle motoryzacyjnym

    Wydajność rozwiązań składających się kompozytów funkcjonalnych i zaawansowanych struktur, takich jak baterie, ogniwa słoneczne i ogniwa paliwowe, zależy od mikrostruktury użytych materiałów. Aby te kompozyty materiałowe zapewniały pożądaną wydajność, wiele różnych materiałów musi ze sobą skutecznie współdziałać.

    Skupiamy się tutaj na elementach wykonanych z niklu, manganu i kobaltu. Tego rodzaju ogniwa mają symbole Li-NMC, LNMC, NMC oraz NCM. Oznaczenia NCM 111, 523 itd. wskazują odpowiedni stosunek składu niklu, kobaltu i manganu. Przykład pokazuje przekrój poprzeczny akumulatora litowo-jonowego z katodą wykonaną z NCM 111. Ładowanie i rozładowywanie akumulatorów litowo-jonowych prowadzi do zmian w ich mikrostrukturze. Pojawiają się pęknięcia, które zwiększają powierzchnię warstwy SEI. Zmniejsza to wydajność akumulatora.

  • Za pomocą mikroskopu elektronowego możemy dostrzec różnice strukturalne między wariantami NCM, pomimo że inne czynniki produkcyjne są niezmienione. Widać to w przekroju poprzecznym, główne cząstki 811 są znacznie mniejsze niż te 532 lub 111. Ten doskonały kontrast materiałowy struktury podziarnowej jest widoczny tylko dzięki unikalnemu dla mikroskopów elektronowych ZEISS detektorowi Energy Selective Backscatter (EsB).

    Lepszy skład elektrolitów może zmniejszyć fizyczne zużycie materiałów katodowych. Dzięki lepszym procesom chemicznym można wytwarzać materiały katodowe o większych cząsteczkach ziarna.

  • Ogniwo baterii litowo-jonowej: Obraz rozkładu pierwiastków EDX

    Przekrój ogniwa baterii litowo-jonowej: mapowanie EDS (O, Al, F, Si i C). Możliwe jest użycie spektroskopii dyspersyjnej energii (EDS) w celu potwierdzenia składu pierwiastkowego obiektów badanych pod mikroskopem.

    Ten obraz potwierdza wysoki poziom cząsteczek fluoru po stronie katody, jak można się spodziewać w przypadku starej próbki. Fluor znajduje się w elektrolicie i łączy się z warstwą SEI, której ilość zwiększa się wraz ze starzeniem. Separator boehmitowy wykazuje sygnały aluminium i tlenu, zgodnie z przewidywaniami. Węgiel jest używany jako czynnik przewodzący w spoiwie. Ponieważ polimerem separatora jest węglowodór, oznacza to, że węgiel można zobaczyć w całej baterii.

  • Analizy materiałowe: Analiza wielkości ziarna z segmentacją wspieraną przez AI

    Wielkość i rozkład ziarna są bezpośrednio związane z charakterystyką materiału. Strukturę krystalograficzną swoich materiałów należy określać zgodnie z normami międzynarodowymi. Możesz scharakteryzować swoje próbki, korzystając z trzech metod oceny:

    • Metoda planimetryczna do automatycznej rekonstrukcji granic ziaren
    • Metoda przechwytywania z różnymi siatkami pomiarowymi do interaktywnego wykrywania i zliczania przecięć granic ziaren​
    • Metoda porównawcza do ręcznej oceny obrazu z diagramami porównawczymi
  • Oprogramowanie ZEISS ZEN Intellesis wykorzystuje algorytmy maszynowego uczenia się i wstępnie wyszkolony model do rozpoznawania obcych faz i granic ziaren. Wystarczy jedno kliknięcie, aby wybrać model segmentacji instancji oraz klasę, która ma zostać poddana segmentacji.

    Wizualizacja wyników zawiera wszystkie obrazy i rezultaty przeprowadzonej analizy. Widoczne są również oryginalne obrazy. Wszystkie wyniki analizy można przeglądać w przejrzystej tabeli, a także na wykresie słupkowym przedstawiającym rozkład wielkości ziaren.

Do pobrania



Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

Szukasz więcej informacji?

Odezwij się do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Szczegóły zapytania
  • Dane kontaktowe
  • Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.