Industrial Quality Solutions
Polska
wstecz
Industrial Quality Solutions
zalecane wyszukiwania
popularne wyszukiwania
Emisja pola SEM

ZEISS Sigma​

Uzyskaj dostęp do niezawodnych obrazów i analiz z wysoką rozdzielczością

ZEISS Sigma opiera się na sprawdzonej technologii ZEISS Gemini. Konstrukcja obiektywu Gemini łączy pola elektrostatyczne i magnetyczne, aby zmaksymalizować wydajność optyczną i jednocześnie zminimalizować wpływy pola na próbkę. Umożliwia to doskonałe obrazowanie, nawet w przypadku trudnych próbek, takich jak materiały magnetyczne.

  • Dokładne i powtarzalne wyniki dla dowolnej próbki
  • Szybkie i łatwe przygotowanie eksperymentu
  • Oparty na sprawdzonej technologii Gemini
  • Elastyczna detekcja zapewniająca wyraźne obrazy
  • Sigma 560 charakteryzuje się najlepszą w swojej klasie geometrią EDS
ZEISS Sigma
Kontakt

ZEISS Sigma dla przemysłu

Poznaj nowy poziom jakości podczas testowania próbek

Koncepcja układu detekcji wewnątrz GEMINI zapewnia wydajne zbieranie sygnału poprzez wykrywanie elektronów wtórnych (SE) i/lub wstecznie rozproszonych (BSE), minimalizując w ten sposób czas uzyskania obrazu. Technologia wzmacniacza wiązki Gemini gwarantuje małe rozmiary plamki i wysoki stosunek sygnału do szumu.

Możesz przeanalizować wszystkie swoje próbki za pomocą najnowszej technologii detekcji. Zbieraj informacje topograficzne o wysokiej rozdzielczości za pomocą nowego detektora ETSE i detektora InLens w trybie wysokiej próżni. Uzyskaj wyraźne obrazy w trybie zmiennego ciśnienia za pomocą detektora VPSE lub C2D. Twórz obrazy transmisyjne o wysokiej rozdzielczości za pomocą detektora STEM. Następnie zbadaj skład za pomocą detektora HDBSD lub YAG. ​

Obszary zastosowań w skrócie

  • Analiza uszkodzeń materiałów i wytworzonych części
  • Obrazowanie i analiza stali i innych metali
  • Kontrola jakości urządzeń medycznych​
  • Badanie półprzewodników i urządzeń elektronicznych w sterowaniu procesami i diagnostyce​
  • Obrazowanie i analiza nowych nanomateriałów​ w wysokiej rozdzielczości
  • Analiza powłok i cienkich warstw
  • Badania różnych form węgla i innych materiałów 2D ​
  • Obrazowanie, analiza i różnicowanie materiałów polimerowych
  • Prowadzenie badań nad akumulatorami w celu zrozumienia efektów starzenia i poprawy ich jakości​

Automatyczna analiza cząstek i multimodalne obrazowanie korelacyjne

  • Korelacyjna automatyczna analiza cząstek

    Od czystości technicznej i przewidywania zużycia silnika po produkcję stali, zarządzanie ochroną środowiska i produkcję addytywną - rozwiązania do analizy cząstek z mikroskopem elektronowym firmy ZEISS automatyzują Twoje procesy i zwiększają powtarzalność wyników.

    Analiza korelacyjna obejmująca mikroskopię świetlną i elektronową oparta o płynny i zintegrowany proces

    • Automatyczne i zintegrowane raportowanie LM/EM​
    • Dokładna lokalizacja źródeł zanieczyszczeń​
    • Szybsze podejmowanie świadomych decyzji
    • Ciągłe podnoszenie jakości produkcji​
    • Szybsze uzyskiwanie wyników: automatyczna analiza zamiast ciągłych, indywidualnych analiz, a także szybsza inspekcja i testowanie cząstek dzięki zintegrowanym algorytmom uczenia maszynowego​

     

  • Multimodalne korelacyjne obrazowanie cząstek mikroplastiku

    ZEISS ZEN Intellesis umożliwia identyfikację cząstek za pomocą uczenia maszynowego. Do wyników można uzyskać dostęp za pomocą wydajnego oprogramowania ZEISS ZEN Connect. Następnie ZEISS ZEN Intellesis zapewnia dalszy wgląd w rozkład cząstek w oparciu o klasyfikację obiektów i segmentację obrazu opartą na uczeniu maszynowym. ​

  • Korelacja dwóch metod mikroskopowych, SEM i Raman, jest wykorzystywana do generowania maksymalnej ilości informacji podczas analizy – zwłaszcza w przypadku cząstek polimerów. ZEN Connect służy do porównania z metodą Raman do podstawowej analizy i ZEN Intellesis do automatycznej klasyfikacji. Narzędzie do raportowania służy do automatycznego tworzenia raportów w ZEN Core na podstawie szablonów i zapisywania ich w formacie PDF lub Doc (4).

    Korelacja dwóch metod mikroskopowych, SEM i Raman, jest wykorzystywana do generowania maksymalnej ilości informacji podczas analizy – zwłaszcza w przypadku cząstek polimerów. ZEN Connect służy do porównania z metodą Raman do podstawowej analizy i ZEN Intellesis do automatycznej klasyfikacji. Narzędzie do raportowania służy do automatycznego tworzenia raportów w ZEN Core na podstawie szablonów i zapisywania ich w formacie PDF lub Doc (4).

    W przypadku obrazu SEM (1), analiza obrazu służy do segmentacji wszystkich cząstek (2) i pomiaru wybranych cech. Pomiary mogą być wyświetlane na przykład w formie rozkładu wielkości. Klasyfikacja obiektów Intellesis służy do dalszej klasyfikacji segmentowanych cząstek i sortowania ich na podtypy (3). Liczba cząstek według typu może być wykonana przy użyciu tych informacji. Klasyfikacja obiektów jest wykonywana dla standardowych cząstek nano- i mikroplastiku (polistyren (PS, jasnoniebieski), polietylen (PE, zielony), poliamid-nylon 6 (PA, ciemnoniebieski) i polichlorek winylu (PVC, czerwony)) na filtrze poliwęglanowym obrazowanym za pomocą ZEISS Sigma. W badaniu korelacyjnym połączono wysoką rozdzielczość mikroskopu elektronowego z możliwościami analitycznymi mikroskopu Raman’a. ​

ZEISS SmartPI​

ZEISS SmartPI został zaprojektowany do powtarzalnej analizy dużych objętości rutynowych próbek w środowisku produkcyjnym. Możliwość identyfikacji, analizy i raportowania danych dotyczących zanieczyszczeń wprowadza nowy wymiar do procesów kontroli jakości. Skorzystaj ze znaczących udoskonaleń w pełni zautomatyzowanej analizy i klasyfikacji cząstek SEM. Pozwól, aby rozwiązanie ZEISS SmartPI zwiększyło Twoją produktywność, poprawiło jakość i zmniejszyło koszty związane z zanieczyszczeniami. ZEISS SmartPI automatycznie wykrywa, mierzy, liczy i klasyfikuje interesujące nas cząstki na podstawie ich budowy i składu pierwiastkowego.​

Raporty zgodne ze standardami branżowymi, takimi jak VDA 19.1 i ISO 16232 są generowane automatycznie​.

W pełni zintegrowany i kompatybilny z systemami Bruker & Oxford EDS.

Więcej o ZEISS Sigma znajdziesz w naszych filmach

  • Ewolucja optyki ZEISS Gemini

    Zablokowana zawartość stron trzecich

    Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.
    Technologia ZEISS Gemini dla przemysłu. ZEISS oferuje odpowiednie rozwiązanie dedykowane do każdego wyzwania. Obejrzyj film, aby zobaczyć jak rozwijała się technologia Gemini oraz poznać jej zalety.

Pobierz broszurę o SEM

Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

ZEISS Metrology Shop

Łatwe zamawianie trzpieni, akcesoriów pomiarowych i wiele więcej

Portal ZEISS Metrology

Uzyskaj dostęp do pełnej gamy usług dla systemów i oprogramowania

ZEISS Academy Metrology

Spersonalizowane szkolenia metrologiczne dostępne w różnych formatach

Szukasz więcej informacji?

Odezwij się do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Szczegóły zapytania
  • Dane kontaktowe
  • Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.