ZEISS ARAMIS Adjustable 24M

Pomiar naprężeń i odkształceń z najwyższym poziomem szczegółowości

ARAMIS Adjustable 24M firmy ZEISS łączy zaawansowaną technologię z maksymalną elastycznością. Dwie kamery o rozdzielczości 24 megapikseli przechwytują nawet najmniejsze przemieszczenia i odkształcenia 3D powierzchni – zarówno podczas pomiarów punktowych, jak i całej geometrii. Dzięki unikalnemu połączeniu wysokiej rozdzielczości lokalnej i częstotliwości zapisu obrazu sensor zapewnia precyzyjne wyniki w szerokim zakresie zadań inspekcyjnych oraz spełnia zwiększone wymagania sektora badań i rozwoju.

Pomiary w wysokiej rozdzielczości
Nowa generacja sensorów do testowania
Efektywna akwizycja danych

Wysoce szczegółowe obrazy dla szybko zmieniających się wymagań

Nowa generacja sensorów do testowania

Wyjątkowe możliwości techniczne ARAMIS Adjustable 24M pozwalają sprostać każdemu wyzwaniu zapewniając dużą elastyczność dla każdego zadania pomiarowego. Sensor BSI gwarantuje doskonałą czułość na światło, wstępnie zdefiniowane tryby obrazu oferują inteligentne opcje rejestrowania szybkich ruchów, a przewody światłowodowe zapewniają wysokie prędkości transmisji danych.

Wszechstronność

ZEISS ARAMIS Adjustable 24M rejestruje 100 kl./s przy pełnej rozdzielczości kamery. Częstotliwość zapisu obrazu można zwiększyć do 360 kl./s dzięki czterem dodatkowym trybom obrazu. W połączeniu z modułową konstrukcją system umożliwia dostosowanie poszczególnych komponentów do różnorodnych zadań pomiarowych.
Niezawodność

Lekkie i elastyczne przewody światłowodowe oraz przemysłowe komponenty sieciowe gwarantują szybkie i niezawodne przetwarzanie danych pomiarowych. Dzięki temu system osiąga wysokie prędkości transmisji danych i jest niewrażliwy na zakłócenia elektromagnetyczne.

Dane techniczne

	ZEISS ARAMIS Adjustable 24M
Rozdzielczość kamery	5312 × 4448 pikseli
Szybkość klatek (kl./s)	100 kl./s przy pełnej rozdzielczości
	350 kl./s w trybie binningu (2656 × 2224 pikseli)
	185 kl./s przy 5312 × 2240 pikseli
	270 kl./s przy 5312 × 1472 pikseli
	360 kl./s przy 1920 × 1088 pikseli
Obszar pomiarowy (mm)	20 × 17 do 5000 × 4500

Precyzja i wszechstronność w zastosowaniach badawczo-rozwojowych

Unikalne połączenie wysokiej rozdzielczości przestrzennej, dużej szybkości akwizycji obrazu i modułowej konstrukcji zapewnia maksymalną elastyczność zastosowania dla szerokiej gamy zadań pomiarowych. Jest to szczególnie istotne w związku z szybko zmieniającymi się wymaganiami w sektorze badań i rozwoju.

Inżynieria lądowa

W dziedzinie charakterystyki materiału sensor zapewnia niezawodne określanie parametrów materiałów i rejestruje nawet najmniejsze pęknięcia, które pojawiają się przed uszkodzeniem materiału. Podczas analizy rozwoju i otwierania pęknięć w dużych częściach przy niskim odkształceniu, wysoka rozdzielczość przestrzenna umożliwia szczegółową analizę zmian strukturalnych już na wczesnym etapie.
Elektronika

W porównaniu do sensorów o niższej rozdzielczości, w tym samym obszarze pomiarowym generowanych jest więcej informacji, co pozwala na dokładniejsze obliczenia przemieszczeń czy odkształceń. Oznacza to, że nawet małe próbki i komponenty (2–50 mm) można mierzyć z najwyższym poziomem szczegółowości w celu np. analizy zachowania komponentów elektronicznych pod obciążeniem termicznym.
Motoryzacja

W przypadku badań zmęczeniowych dużych komponentów (> 500 mm) przy małych odkształceniach system ZEISS ARAMIS Adjustable 24M umożliwia dokładniejsze określanie deformacji przy maksymalnej sile oraz szczegółowe rejestrowanie przemieszczeń w czasie.