ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Jeden system CT. Wiele zastosowań.

ZEISS METROTOM 1500 oferuje zaawansowaną technologię tomografii komputerowej, która umożliwia niezawodne wykrywanie i pomiar wad znajdujących się pod powierzchnią. Co wyróżnia ten system: wysoka prędkość i rozdzielczość dostarczanych obrazów zarówno w przypadku małych, jak i dużych części.

  • Szybkie skanowanie
  • Wysoka jakość obrazu CT
  • Dokładność metrologiczna (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Opcjonalna certyfikacja DAkkS
  • Kompaktowe wymiary

Korzyści

Lepsza jakość obrazu
Lepsza jakość obrazu

Lepsza jakość obrazu

Wysoka rozdzielczość oraz identyfikowalna dokładność

Wszechstronność systemu

Wszechstronność systemu

Odpowiedni do różnych części i zastosowań

ZEISS METROTOM 1500 pozwala skanować małe części w bardzo wysokiej rozdzielczości oraz części o średnicy do 615 mm i wysokości do 800 mm wykonując kompletną rekonstrukcję. Jest to osiągane poprzez rozszerzenie pola widzenia zarówno w poziomie, jak i w pionie. Dzięki lampie rentgenowskiej o ogniskowej wynoszącej zaledwie kilka mikrometrów i maksymalnej mocy 500 W, małe części mogą być skanowane z bardzo wysoką rozdzielczością, a duże części mogą być skanowane w krótkim czasie. W rezultacie system ten jest idealny do wielu zastosowań.

Kalibracja DAkkS ​ Twoja droga do niezawodnych pomiarów

Kalibracja DAkkS

Twoja droga do niezawodnych pomiarów

Wysokie standardy jakości w przemyśle motoryzacyjnym, medycznym czy farmaceutycznym często wymagają stosowania akredytowanych procedur inspekcji CT. Gwarantują one obiektywny i zgodny z normami pomiar obiektów według VDI/VDE 2630 część 1.3. Kalibracja DAkkS jest także dostępna dla serii przemysłowych tomografów komputerowych ZEISS METROTOM 1500. Zyskaj dzięki wartości dodanej: oszczędź koszty i zwiększ zaufanie klientów.

Pomysłowa konstrukcja do małych przestrzeni

Pomysłowa konstrukcja do małych przestrzeni

Efektywne wykorzystanie przestrzeni

Inspekcja kompletnych komponentów

Inspekcja kompletnych komponentów

Idealny do pomiarów części z wielu materiałów

W przypadku tradycyjnej techniki pomiarowej ukryte struktury można skontrolować dopiero po czasochłonnym i kosztownym procesie obejmującym zniszczenie próbki warstwa po warstwie. ZEISS METROTOM 1500 jest przemysłowym systemem tomografii komputerowej do pomiaru i inspekcji kompletnych komponentów wykonanych z tworzyw sztucznych i/lub metali lekkich, a nawet miedzi czy stali. ​

ZEISS scatterControl​  ​
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl​

Wyjątkowa jakość obrazu CT

Moduł ZEISS scatterControl znacząco poprawia jakość obrazu dostarczanego przez ZEISS METROTOM 1500 dzięki zredukowaniu artefaktów wywołanych promieniowaniem rozproszonym do minimum. Takie rozwiązanie sprzętowe ułatwia późniejsze przetwarzanie danych i ocenę części, w efekcie czego wyznaczanie powierzchni i analiza wad są jeszcze dokładniejsze. ​

 Poznaj więcej zalet ZEISS METROTOM 1500​.

Przyszłościowa kontrola jakości

Przyszłościowa kontrola jakości 
Pomiar i inspekcja dużych części

Trzecia generacja ZEISS METROTOM 1500 umożliwia pomiary większych części w ramach jednej rekonstrukcji dzięki zwiększeniu objętości pomiarowej: dzięki nowo zaprojektowanemu systemowi pozycjonowania części o wysokości do 870 mm mieszczą się w tomografie bez konieczności zmiany ich pozycji.

Kompaktowe wymiary

W przypadku transportu, instalacji, konserwacji czy zajmowanej przestrzeni w laboratorium klienta dużą wagę ma zasada: im mniejszy system, tym lepiej. Konstrukcja kabiny największego przemysłowego tomografu komputerowego od ZEISS została opracowana tak, aby możliwie najefektywniej wykorzystać przestrzeń - jej powierzchnia wynosi zaledwie 6,7 m2.

Większy komfort obsługi

Przednie drzwi umożliwiają zarówno załadunek części, jak i serwis systemu co sprawia, że ustawianie większych i cięższych komponentów jest znacznie wygodniejsze. Dzięki temu wykonywane pomiary CT są prostsze, bezpieczniejsze i dokładniejsze. Ponieważ ZEISS METROTOM 1500 nie wymaga dużej dodatkowej przestrzeni nad, za, ani po żadnej z bocznych stron, system oferuje dużą elastyczność pod kątem miejsca instalacji.

Zastosowania

  • Przemysł

    Przemysł

    Części z metali lekkich, kompozyty, części wielomateriałowe, części z tworzyw sztucznych i wytwarzane addytywnie.

  • Turbina silnika lotniczego

    Lotnictwo

    Niezawodne skanowanie łopatek z tytanu, stali lub kompozytów w celu spełnienia przemysłowych standardów i wymogów bezpieczeństwa.

  • Spinki uzwojenia w silniku elektrycznym

    Motoryzacja

    Skanowanie układu napędowego, komponentów deski rozdzielczej i aluminiowych odlewów takich jak głowica cylindrów czy obudowa stojana.

  • Medycyna

    Medycyna

    Precyzyjne skanowanie części dla sektora medycznego takich jak iniektory, implanty, inhalatory czy rozruszniki serca.

  • Płyta główna

    Elektronika

    Bezpieczne skanowanie złączy, baterii, płytek PCB i innych komponentów elektrycznych.

  • ZEISS INSPECT X-Ray Kompleksowa analiza danych CT w 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray​

    Kompleksowa analiza danych CT w 3D

    Łatwe w użyciu oprogramowanie inspekcyjne ZEISS INSPECT X-Ray umożliwia kompleksową analizę danych wolumetrycznych w 3D – zautomatyzowaną lub niestandardową i odpowiednią nawet dla początkujących. Oprogramowanie pozwala na precyzyjną analizę geometrii, jam skurczowych, czy struktur wewnętrznych i zespołów części. Indywidualne obrazy przekrojów wizualizują nawet niewielkie wady. Do projektu można także wczytać dane wolumetryczne kilku komponentów, przeprowadzić analizę trendu i porównać wyniki z danymi CAD - wszystko w jednym oprogramowaniu.

  • ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)​

    ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)​

    Integracja sztucznej inteligencji z tomografią komputerową

    Dodatek ZADD w oprogramowaniu ZEISS INSPECT X-Ray umożliwia szybkie, niezawodne i automatyczne wykrywanie nawet niewielkich i niewyraźnych wad. ZADD wykrywa, lokalizuje i klasyfikuje wady i anomalie poprzez szczegółowe analizy skanów CT. Dodatek oprogramowania został opracowany specjalnie dla sektora części odlewanych, formowanych wtryskowo, czy komponentów drukowanych.

  • ZEISS PiWeb Od danych jakościowych po znaczące wyniki

    ZEISS PiWeb​

    Od danych jakościowych po znaczące wyniki

Funkcjonalności ZEISS METROTOM OS

Rozwiązania oprogramowania do wydajnego skanowania CT 

  • Advanced Mixed Material Artifact Reduction (AMMAR)​

    Advanced Mixed Material Artifact Reduction (AMMAR)​

    Zobacz więcej szczegółów w obszarze przejścia między materiałami: proces korekcji AMMAR znacznie redukuje artefakty występujące podczas skanowania obiektów z różnych materiałów i o różnej grubości, zwłaszcza w przypadku części takich jak złącza wykonane z metalu i tworzywa sztucznego. ​

  • Virtual Horizontal Detector Extension (VHD)​

    Virtual Horizontal Detector Extension (VHD)​

    Wykonuj pomiary części, które są szersze niż detektor: VHD zwiększa średnicę rejestrowanej objętości nawet o 80%. Umożliwia to skanowanie części, które są znacznie szersze niż detektor, a także pozwala na skanowanie mniejszych części z mniejszymi rozmiarami wokseli, a tym samym wyższą rozdzielczością.

  • VolumeMerge​

    VolumeMerge​

    Niezwykle precyzyjny system pozycjonowania, który wykorzystuje naszą wiedzę z sektora pomiarów stykowych, pozwolił zwiększyć wysokość rekonstruowanych w systemie komponentów do 870 mm. Oznacza to, że duże komponenty mogą zostać uchwycone w całości w jednym zautomatyzowanym procesie, eliminując tym samym potrzebę czasochłonnego ponownego pozycjonowania i wyrównywania przez użytkownika.​

  • ShortScan​

    ShortScan​

    ShortScan jest trybem skanowania, w którym część wykonuje tylko nieco ponad połowę obrotu, a nie cały. Umożliwia to skanowanie określonych obszarów części z wyższą rozdzielczością, których geometria nie byłaby tak szczegółowa przy pełnym obrocie.

  • Separation​ ​

    Separation​ ​

    Automatyczne rozdzielenie zwiększa produktywność poprzez skanowanie kilku komponentów jednocześnie i automatyczną, oddzielną ocenę każdego z nich, co znacznie skraca czas skanu i zmniejsza nakład pracy operatora.

Seria ZEISS METROTOM

Do pobrania



Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

Szukasz więcej informacji?

Odezwij się do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Szczegóły zapytania
  • Dane kontaktowe
  • Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.