ZEISS scatterControl

Wyjątkowa jakość obrazu tomografii komputerowej

Rozwiązanie sprzętowe do optymalizacji jakości obrazu

Moduł ZEISS scatterControl znacząco poprawia jakość obrazu i redukuje artefakty wywołane promieniowaniem rozproszonym do minimum. Ułatwia to późniejsze przetwarzanie danych i ocenę części, w efekcie czego wyznaczanie powierzchni i analiza wad są jeszcze dokładniejsze. Produkt idealnie nadaje się do części o dużej objętości i gęstości, takich jak części metalowe wytwarzane metodą addytywną i odlewy aluminiowe, nawet z wkładami stalowymi, a także innych zespołów zawierających gęstsze materiały.

Moduł jest dostępny dla ZEISS METROTOM 1500 225kV G3 jako rozwiązanie modernizacyjne lub w ramach zakupu nowego systemu. Zmodernizuj swój system z ZEISS scatterControl już teraz i ciesz się doskonałą jakością obrazu, która znacznie ułatwia ocenę danych.

Lepsza jakość obrazu, udoskonalone wykrywanie wad
Ulepszony proces określania powierzchni

ZEISS scatterControl udoskonala nie tylko wykrywanie wad, ale także ogólną jakość określania powierzchni. Jest to istotna zaleta w zastosowaniach metrologicznych w przypadku wymagających części, gdzie artefakty – jeśli nie są korygowane – zakłócają proces wyznaczania powierzchni.
Szybkie skanowanie w trybie VAST

ZEISS scatterControl działa zarówno w trybie skanowania „Stop and Go”, jak i VAST. Rozwiązanie to zapewnia doskonałą jakość obrazu w technologii tomografii stożkowej, dzięki czemu jest ona porównywalna z jakością tomografii komputerowej z wiązką wachlarzową, ale oferuje nawet 1000-krotnie krótszy czas skanowania.
Łatwość użytkowania

ZEISS scatterControl to lepsza jakość obrazu za jednym kliknięciem. Moduł współpracuje z innymi przydatnymi funkcjonalnościami METROTOM OS, takimi jak VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) czy VolumeMerge, i jest w pełni zintegrowany z oprogramowaniem.

Skuteczniejsza analiza wad z ZEISS scatterControl

ZEISS scatterControl znacząco poprawia jakość obrazu tomografii komputerowej w przypadku wielu różnych części i branż. Jest to możliwe dzięki zastosowaniu szeregu rozwiązań, począwszy od efektywnego usuwania artefaktów, a skończywszy na pozycjonowaniu modułu względem kontrolowanego obiektu, które sprawiają, że ZEISS scatterControl jest idealnym wyborem. Poniżej dowiesz się, jak można wykorzystać moduł do efektywnego wykrywania i analizy wad.

Lepsza jakość obrazu CT dzięki redukcji artefaktów

Z ZEISS scatterControl zauważysz wyraźną różnicę. Użyj suwaka, aby porównać jakość obrazu rentgenowskiego osiągalną z modułem scatterControl i bez niego. Skorygowany obraz ma wyższy kontrast i mniej artefaktów, dzięki czemu szczegóły są dużo bardziej wyraźne.

Najwyższa jakość dzięki pozycji modułu

W porównaniu z podobnymi produktami ZEISS scatterControl pozwala uzyskać lepszą jakość dzięki zasadzie działania modułu: jest on umieszczony pomiędzy lampą a detektorem. Mniejsze obiekty, takie jak gęste części wytwarzane addytywnie, można umieścić przed modułem, natomiast większe za nim. Moduł umożliwia zastosowanie obu metod. Ponadto wbudowany czujnik fizycznej kolizji i zaawansowane oprogramowanie do przewidywania kolizji skutecznie zapobiegają zderzeniom.

Idealne rozwiązanie dla wielu rodzajów części i branż

Odlewnictwo: części z litego aluminium lub magnezu, nawet ze stalowymi wkładami
Motoryzacja: odlewy z wkładami stalowymi, energoelektronika
Produkcja addytywna: gęste, metalowe części drukowane

Wyższa efektywność inspekcji 3D

Niezawodne oprogramowanie do oceny pomiarów rentgenowskich

Oprogramowanie ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) umożliwia niezawodne wykrywanie nawet najmniejszych wady – w przypadku komponentów formowanych wtryskowo, części z sektora medycznego, wytwarzanych addytywnie i nie tylko.

Dowiedz się więcej

Części, w przypadku których rozwiązanie ZEISS scatterControl jest najbardziej efektywne, to między innymi części z litego aluminium lub magnezu, odlewy ze stalowymi wkładami, części z sektora energoelektroniki, a także gęste i metalowe części drukowane.
ZEISS scatterControl to lepsza jakość obrazu za jednym kliknięciem. Oprogramowanie i sprzęt są już wyposażone w zintegrowane funkcjonalności ochrony przed kolizjami, dzięki czemu proces skanowania można rozpocząć bez żadnych dodatkowych czynności.
Tak, ZEISS scatterControl jest idealnym rozwiązaniem do modernizacji systemu ZEISS METROTOM 1500 G3. Może być wymagana aktualizacja METROTOM OS w celu wprowadzenia udoskonaleń funkcji tomografii komputerowej pod kątem wykorzystania modułu scatterControl

Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

ZEISS Metrology Shop

Łatwe zamawianie trzpieni, akcesoriów pomiarowych i wiele więcej

Portal ZEISS Metrology

Uzyskaj dostęp do pełnej gamy usług dla systemów i oprogramowania

ZEISS Academy Metrology

Spersonalizowane szkolenia metrologiczne dostępne w różnych formatach

Szukasz więcej informacji?

Odezwij się do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

Następny krok:

Szczegóły zapytania
Dane kontaktowe
Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.

ZEISS scatterControl

Wyjątkowa jakość obrazu tomografii komputerowej

Rozwiązanie sprzętowe do optymalizacji jakości obrazu

Korzyści ZEISS scatterControl

Lepsza jakość obrazu, udoskonalone wykrywanie wad

Ulepszony proces określania powierzchni

Szybkie skanowanie w trybie VAST

Łatwość użytkowania

Skuteczniejsza analiza wad z ZEISS scatterControl