![Głowice stykowe]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.33.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.120.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.256.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.341.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1274.425.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1274.425.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/tactile-probes-stage-desktop.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1274.425.0,139,1274,564.file/tactile-probes-stage-desktop.jpg"} "Głowice stykowe")
Głowice stykowe
Do różnorodnych zadań o wysokiej precyzji
Głowice stykowe dla maszyny pomiarowej
Gdy wymagana jest najwyższa precyzja, głowice stykowe są właściwym wyborem. W technice pomiaru stykowego powierzchnia części jest mierzona punkt po punkcie lub - w zależności od głowicy - skanowana z dużą prędkością. ZEISS oferuje szeroką gamę głowic stykowych i może zaproponować właściwe rozwiązanie dla Twojego zadania pomiarowego.
Pomiary pojedynczymi punktami a technika pomiarów skaningowych ZEISS
Skanowanie umożliwia szybsze i dokładniejsze pomiary, ponieważ w krótszym czasie można zebrać więcej punktów w porównaniu do pomiaru pojedynczymi punktami.
Pomiary pojedynczymi punktami
Podczas pomiaru głowicami impulsowymi mierzone są tylko pojedyncze punkty. Następnie należy przesunąć trzpień i powtórzyć proces. Warunki między punktami pomiarowymi obliczane są przez interpolację, co może prowadzić do odchyłek pomiaru. Pomiar za pomocą głowic jednopunktowych jest odpowiedni dla niskich przepustowości i dużych tolerancji. Możliwe jest też zastosowanie przegubu obrotowo-uchylnego ZEISS RDS.
Technologia skanowania
Skanowanie odbywa się płynnym, ciągłym ruchem, co pozwala szybko i dokładnie zmierzyć setki tysięcy punktów na ścieżce, podczas gdy trzpień przesuwa się po powierzchni. Taki przepływ pracy nie tylko jest szybszy i generuje znacznie więcej danych przy wyższej przepustowości, lecz także zapewnia większą dokładność oraz oszczędza czas i koszty.
Głowice skanujące sprawdzą się w procesach o wysokich przepustowościach i wymagających doskonałej precyzji.
![Pomiary pojedynczymi punktami]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.75.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.270.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.576.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/touch-trigger.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/touch-trigger.jpg"} "Pomiary pojedynczymi punktami")
![Technologia skanowania]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.75.14,0,946,699.file/scanning.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.270.14,0,946,699.file/scanning.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.576.14,0,946,699.file/scanning.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/scanning.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/scanning.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/scanning.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/cmm/probes-and-sensors/tactile-probes/images/scanning.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.932.699.14,0,946,699.file/scanning.jpg"} "Technologia skanowania")
Zalety zintegrowanego procesu skanowania
Eliminując interpolację, która jedynie szacuje wartości między zebranymi punktami pomiarowymi, skanowanie w oczywisty sposób obniża ryzyko błędu, generując przy tym znacznie więcej danych. Zapewnia to większą dokładność i pewność pomiarów. Duża prędkość skanowania pozwala na uzyskanie większej przepustowości pomiarów i kontrolę możliwie jak największej liczby części. Skanowanie nie wymaga tylu urządzeń pomiarowych, a problemy są identyfikowane szybciej, co redukuje ilość odpadów oraz konieczność ponownej obróbki.