ZEISS O-DETECT

ZEISS O-DETECT

Wejście do świata techniki pomiarów optycznych

Intuicyjna obsługa, wysokiej jakości obiektyw i elastyczne oświetlenie umożliwiają wykonywanie precyzyjnych pomiarów w krótkim czasie. System jest odpowiedni do pomiarów szerokiej gamy części i szczególnie dobrze sprawdza się w przypadku detali, które łatwo ulegają odkształceniom. Poznaj nową generację metrologii optycznej: ZEISS O-DETECT.

  • Wysoka jakość obrazu i doskonała optyka
  • Różne opcje oświetlenia zapewniające większą elastyczność
  • Łatwa modernizacja dzięki opcjonalnej głowicy stykowej

Funkcjonalności

ZEISS O-DETECT
Doskonała optyka

Zoom cyfrowy ZEISS zapewnia szerokie pole widzenia w wysokiej rozdzielczości, zwiększając wydajność i rejestrując więcej szczegółów. Wysokiej jakości 5-megapikselowa kamera rejestruje obrazy, które następnie z wykorzystaniem technologii przetwarzania obrazu ZEISS są zamieniane w precyzyjne wyniki pomiarów.

Wszechstronność i łatwa modernizacja

Nowy wymienny panel akcesoriów umożliwia szybką zmianę różnych opcji oświetlenia górnego do różnych zastosowań i odbywa się bez interwencji technika serwisu.

Prosta nawigacja i wizualizacja części

Zintegrowana kolorowa kamera poglądowa o rozdzielczości 5 megapikseli pozwala szybciej zlokalizować część i rozpocząć pomiary. System sterowany jest komputerowo, co zmniejsza potrzebę użycia joysticka.

Stabilność precyzji

Maszyna jest kalibrowana do MPE E(3D) zgodnie z normą ISO-10360. Gwarantuje niezawodność i zapewnia porównywalność pomiarów na całym świecie, dostarczając dokładne dane pomiarowe 2D i 3D, co jest szczególnie ważnym aspektem na rynkach o wysokich standardach jakości.

Identyfikowalne dane w profesjonalnych raportach

Raportowanie w aplikacji ZEISS PiWeb umożliwia dokumentowanie oraz wizualizację danych pomiarowych jednym kliknięciem, dostarczając przydatne informacje na temat części i procesów.

Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D

W razie potrzeby ZEISS O-DETECT można wyposażyć w głowicę stykową ZEISS XDT do pomiarów pojedynczych punktów, co pozwala wykonywać pomiary multisensorowe. Zapewnia to jeszcze większą elastyczność maszyny dla różnych zadań pomiarowych.

Intuicyjne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie

Oprogramowanie pomiarowe ZEISS CALYPSO jest efektem połączenia wieloletniej historii i doświadczenia w dziedzinie metrologii. ZEISS CALYPSO express oferuje proste środowisko programistyczne, dzięki któremu wejście do świata metrologii optycznej jest tak proste, jak to tylko możliwe.

Podświetlenie

Podświetlenie

Oświetlenie koncentryczne

Oświetlenie koncentryczne

Światło odbite

Światło odbite

  • ZEISS O-DETECT: Pomiary części łatwo odkształcanych
     

  • Wymienne oświetlenie
     

  • Pomiary części łatwo odkształcanych
    ZEISS O-DETECT
  • Wymienne oświetlenie

Pomiary multisensorowe z ZEISS XDT

Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D

Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D

Dzięki opcji głowicy ZEISS XDT możliwe jest rozszerzenie technologii ZEISS O-DETECT o stykowe pomiary pojedynczych punktów. Zastosowanie głowicy stykowej pozwala na łatwe dotarcie do otworów na bocznej powierzchni detalu czy podcięć, których nie można wykryć za pomocą sensora optycznego. W zależności od zadania pomiarowego, możliwe jest wykorzystanie indywidualnych układów trzpieni, które można wymieniać podczas pomiaru w trybie CNC. Pasywna głowica pomiarowa ZEISS XDT zapewnia powtarzalne wyniki pomiarów - dla każdego pojedynczego mierzonego punktu określana jest odpowiednio duża liczba punktów pomiarowych, a następnie obliczana jest średnia wartość punktu.

Oprogramowanie

Oprogramowanie ZEISS CALYPSO

Łatwa obsługa i programowanie

Uniwersalne oprogramowanie pomiarowe ZEISS CALYPSO zapewnia wysoki stopień elastyczności dla każdego zadania pomiarowego i różnych wymagań. Dzięki przejrzystemu interfejsowi użytkownika i uporządkowanym procedurom aplikacja ZEISS CALYPSO express oferuje prosty proces programowania i jest łatwa w obsłudze. Oprogramowanie ZEISS PiWeb pozwala tworzyć profesjonalne raporty za pomocą zaledwie kilku kliknięc myszy.

Parametry techniczne ZEISS O-DETECT

O-DETECT 3/2/2
O-DETECT 5/4/3

Obiektyw

ZEISS INVENTA D1

ZEISS INVENTA D1

Objętość pomiarowa

300 x 200 x 200 mm3

500 x 400 x 300 mm3

Pole widzenia

8,4 x 7,0 mm2

8,4 x 7,0 mm2

Błąd pomiaru długości MPE (UE)

w 2D: 1,9 µm + L/150 µm

w 3D: 2,4 µm + L/150 µm

w 2D: 1,9 µm + L/150 µm

w 3D: 2,4 µm + L/150 µm

Oprogramowanie

Przykłady zastosowań

  • Pomiar błyszczących i refleksyjnych wyrobów medycznych z ZEISS O-DETECT

  • Pomiar elementów silnika elektrycznego z ZEISS O-DETECT

  • Pomiar komponentów elektronicznych z ZEISS O-DETECT

  • Pomiar błyszczących i refleksyjnych wyrobów medycznych z ZEISS O-DETECT
  • Pomiar elementów silnika elektrycznego z ZEISS O-DETECT
  • Pomiar komponentów elektronicznych z ZEISS O-DETECT

Dowiedz się więcej o opcjach oświetlenia systemu ZEISS O-DETECT

Wypełnij poniższy formularz, aby pobrać naszą broszurę.

Artykuł techniczny - Opcje oświetlenia systemu ZEISS O-DETECT

Wczytywanie formularza...

Jeśli chcesz dowiedzieć się więcej o przetwarzaniu danych przez ZEISS, zobacz informacje o ochronie danych.

Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

Szukasz więcej informacji?

Odezwij się do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Szczegóły zapytania
  • Dane kontaktowe
  • Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.