ZEISS O-INSPECT

Rozwiązanie optyczne z odpowiednią siłą nacisku

Multisensorowe maszyny pomiarowe ZEISS O-INSPECT umożliwiają optymalne pomiary dla każdej charakterystyki zgodnie z ISO-10360 - optycznie lub stykowo.

Szerokie pole widzenia z wysoką rozdzielczością obrazu
Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D
Bezstykowe pomiary powierzchni małych i delikatnych części
Niezawodne pomiary w krótszym czasie

Funkcjonalności

Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D

Stykowa głowica skanująca VAST XXT umożliwia niezwykle precyzyjne skanowanie dostarczając dużą ilość punktów w jednym, płynnym ruchu, co jest cechą unikalną w tej kategorii produktów.

Oświetlenie pierścieniowe

Oświetlenie pierścieniowe składa się z czterech pierścieni obejmujących szesnaście niebieskich oraz szesnaście czerwonych diod LED w ośmiu segmentach, którymi można sterować indywidualnie. Wraz z synchronizacją optyczną, kolorowe diody LED pozwalają użytkownikowi na odfiltrowanie rozpraszającego światła otoczenia, dzięki czemu można np. oświetlać kolorowe materiały z dużym kontrastem.

Niezawodne pomiary w krótszym czasie

Zintegrowany system palet z interfejsem do automatycznego pomiaru temperatury mierzonej części pozwala na oszczędności czasu i zapewnienie niezawodności.

Bezstykowe pomiary powierzchni małych i delikatnych części

Głowica ZEISS DotScan umożliwia bezstykowe rejestrowanie topografii części. Dostępna jest jako opcja i znajduje zastosowanie w przypadku delikatnych, odblaskowych lub mało kontrastowych powierzchni, które utrudniają użycie innych głowic.

Dokładność we wszystkich kierunkach

Opcjonalny stół obrotowy zapewnia maszynie pomiarowej ZEISS O-INSPECT programowalną oś obrotową, zapewniając tym samym pomiar części ze wszystkich stron. Możliwe jest również zintegrowanie stołu z paletą, w celu uzyskania innych pozycji i skrócenia czasu konfiguracji.

Redukcja niedokładności pomiarów

W każdym miejscu instalacji występują drgania podłoża o różnym nasileniu, czego rezultatem mogą być niedokładności pomiarów.  Rozwiązaniem jest zastosowanie opcji pneumatycznej izolacji drgań. Możliwość zamontowania pneumatycznej izolacji przeciwdrganiowej jest dostępna dla wszystkich trzech rozmiarów urządzeń. System jest niezbędny w przypadku opcji głowicy scout 240.

Szerokie pole widzenia z wysoką rozdzielczością obrazu

Obiektyw ZEISS Discovery.V12 oferuje wiele ustawień powiększenia. Różne opcje głowicy: standard 100, scout 160 i scout 240 zapewniają wyższą rozdzielczość i pozwalają uchwycić nawet najdrobniejsze szczegóły.

Oprogramowanie dostosowane do każdego zastosowania

ZEISS CALYPSO oferuje rozwiązania wizualizacji pozwalające zaoszczędzić czas. Modele CAD można na siebie nakładać, co pozwala na szybką identyfikację ewentualnych odchyłek (pomiędzy wartościami aktualnymi a wartościami docelowymi). Dzięki szerokiej gamie dodatkowych opcji, ZEISS CALYPSO oferuje również odpowiednie narzędzia do specjalnych wymagań.

Identyfikowalne dane w profesjonalnych raportach

Raportowanie w aplikacji ZEISS PiWeb umożliwia dokumentowanie oraz wizualizację danych pomiarowych jednym kliknięciem, dostarczając przydatne informacje na temat części i procesów.

Wyjątkowa optyka

Szerokie pole widzenia

i wysoka rozdzielczość obrazu

Obiektyw ZEISS Discovery.V12 oferuje wiele ustawień powiększenia. W porównaniu ze standardowymi obiektywami zapewnia on 4-krotnie szersze pole widzenia i znakomitą rozdzielczość obrazu także na jego obrzeżach. To oznacza krótszy czas pomiaru i wyjątkową precyzję.
Dwie nowe opcje głowic, scout 160 i scout 240, zapewniają jeszcze wyższą rozdzielczość optyczną. Zastosowanie alternatywnych głowic umożliwia uzyskanie rozdzielczości optycznej 1,6 lub 2,4 razy większej niż w wariancie standard 100.
Optymalny kontrast

System oświetlenia ZEISS O-INSPECT

W celu uzyskania dokładnych wyników pomiarów, niezbędny jest obraz o wysokim kontraście. ZEISS O-INSPECT oferuje bardzo wszechstronny system oświetlenia. Można oświetlać skrajnie różne kształty, tekstury i kolory powierzchni, uzyskać różne kąty padania, dzięki czemu można wyraźnie odróżnić krawędzie.

Technologia multisensorowa

Pomiary stykowe

Technologia stykowa jest właściwym wyborem, gdy wymagana jest bardzo wysoka dokładność pomiaru. Głowice stykowe, takie jak ZEISS VAST XXT, skanują powierzchnię elementu punkt po punkcie. Dodatkowo posiada ona również funkcję skanowania, dostarczając w ten sposób informacji o kształcie cechy.

Pomiary optyczne

Obiektyw zmiennoogniskowy ZEISS Discovery.V12 zapewnia szerokie, wolne od zniekształceń pole widzenia, co pozwala uzyskać wyniki pomiarów z doskonałą dokładnością i przy znacznym skróceniu czasu pomiaru.

Światło białe

Chromatyczno-konfokalna głowica światła białego ZEISS DotScan umożliwia bezstykowe rejestrowanie topografii części. Doskonale sprawdza się w przypadku delikatnych, odblaskowych lub mało kontrastowych powierzchni, które utrudniają użycie innych głowic.

Perfekcyjne połączenie pomiarów optycznych i stykowych

Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami śledzenia. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Oprogramowanie

Jedno oprogramowanie do każdego zadania pomiarowego

ZEISS O-INSPECT nie stawia na żadne kompromisy również w kwestii oprogramowania. Dzięki ZEISS CALYPSO masz dostęp jednego uniwersalnego oprogramowania pomiarowego, które służy także do obsługi naszych innych współrzędnościowych maszyn pomiarowych, takich jak CONTURA.

ZEISS CALYPSO oferuje intuicyjną koncepcję obsługi, która łączy w sobie funkcjonalność i elastyczność. Programowanie odbywa się poprzez kliknięcie myszą żądanych elementów pomiarowych na modelu CAD lub jeszcze prościej - poprzez ich dotknięcie przez końcówkę trzpienia, niezależnie od głowicy, oraz ich automatyczne rozpoznawanie.

Dostępne są różne opcje oprogramowania, które oferują odpowiednie narzędzia do specjalnych wymagań, takie jak standardowa funkcja krzywej w O-INSPECT, a także zintegrowane narzędzie do raportowania ZEISS PiWeb reporting.

Dowiedz się więcej

Parametry techniczne ZEISS O-INSPECT

		ZEISS O-INSPECT 3/2/2 300x200x200 mm³	ZEISS O-INSPECT 5/4/3 5/4/3 500x400x300 mm³	ZEISS O-INSPECT 8/6/3 8/6/3 800x600x300 mm³
Objętość pomiarowa		300 x 200 x 200 mm³	500 x 400 x 300 mm³	800 x 600 x 300 mm³
Błąd pomiaru długości MPE(E)	w 1D	1,6 µm + L/200 µm	1,4 µm + L/250 µm	1,5 µm + L/250 µm
	w 2D	1,9 µm + L/150 µm	1,6 µm + L/250 µm	1,8 µm + L/250 µm
	w 3D	2,4 µm + L/150 µm	1,9 µm + L/250 µm	2,2 µm + L/250 µm
Oprogramowanie		ZEISS CALYPSO
Obiektyw kamery optycznej 2D		ZEISS Discovery.V12
Opcja	standard 100	odległość robocza 87 mm, 0,5 x - 6,3 x, rozdzielczość sensora 0,9 μm, max. pole widzenia: 16,1 mm x 12,0 mm
	scout 160	odległość robocza 55 mm, 0,8 x - 10 x, rozdzielczość sensora 0,6 μm, max. pole widzenia: 10,1 mm x 7,5 mm
	scout 240	odległość robocza 30 mm, 1,2x - 15 x, rozdzielczość sensora 0,4 μm, max. pole widzenia: 6,7 mm x 5,0 mm
Głowica stykowa		ZEISS VAST XXT
Opcja	VAST XXT TL 1	długość promieniowa trzpienia do 40 mm (trzpień gwiazdowy); średnica końcówki trzpienia 0,1 do 8 mm
Opcja	VAST XXT TL 3	długość promieniowa trzpienia do 65 mm (trzpień gwiazdowy); średnica końcówki trzpienia 0,3 do 8 mm