Industrial Quality Solutions
Polska
wstecz
Industrial Quality Solutions
zalecane wyszukiwania
popularne wyszukiwania
ZEISS O-INSPECT duo​

ZEISS O-INSPECT duo

Mikroskop i maszyna pomiarowa w jednym.

ZEISS O-INSPECT duo oferuje dwie technologie w jednej maszynie: duże elementy, takie jak płytki PCB, ogniwa paliwowe, czy baterie w całej formie mogą być zarówno mierzone, jak i poddawane inspekcji w wysokiej rozdzielczości. Połączenie techniki pomiaru 3D i inspekcji mikroskopowej zwiększa wydajność i oszczędza miejsce w laboratoriach. ZEISS O-INSPECT duo jest dostępny w rozmiarze 8/6/3.

  • 2 w 1: Mikroskop i współrzędnościowa maszyna pomiarowa w jednym urządzeniu
  • Szybkie i precyzyjne pomiary - optyczne i stykowe
  • Elementy optyczne o wysokiej rozdzielczości z dodatkowym oprogramowaniem inspekcyjnym ZEISS ZEN core
O-INSPECT duo
Kontakt

Pierwszy multitechnologiczny system firmy ZEISS

Jako „mikroskop VMM”, ZEISS O-INSPECT duo obejmuje dwa podstawowe zastosowania w zapewnianiu jakości: precyzyjny pomiar i inspekcję w wysokiej rozdzielczości dużych lub wielu małych części. Urządzenie zostało również opracowane specjalnie do zastosowań, w których wymagane jest połączenie pomiaru wymiarów i inspekcji - w tym segmentacji, łączenia i przetwarzania kolorowych obrazów. Zamiast konieczności zakupu zarówno VMM, jak i mikroskopu, w laboratoriach jakości potrzebne jest tylko jedno urządzenie, co pozwala zaoszczędzić miejsce i koszty systemu. Dowiedz się więcej o innych zaletach wielofunkcyjnego urządzenia dla poszczególnych obszarów.
Wybierz kategorię
Metrologia
Mikroskopia
Precyzyjne pomiary - optyczne i stykowe
METROLOGIA

Precyzyjne pomiary - optyczne i stykowe

Wysoka dokładność dla płaskich i delikatnych detali

ZEISS O-INSPECT duo to multisensorowa maszyna pomiarowa, która charakteryzuje się optyką o wysokiej rozdzielczości połączonej ze stykową głowicą skanującą ZEISS VAST XXT. Głowica umożliwia szybkie i dokładne pomiary 3D poprzez rejestrowanie dużej liczby punktów pomiarowych w jednym ruchu. ​

ZEISS O-INSPECT duo umożliwia bezstykowy pomiar delikatnych części z doskonałą dokładnością i znacznie krótszym czasem pomiaru dzięki ZEISS VAST probing (ZVP). Jest to możliwe dzięki dużemu polu widzenia, wysokiej rozdzielczości i wierności obrazu, także na jego obrzeżach.

Pomiar i inspekcja powierzchni na jednej maszynie
METROLOGIA

Pomiar i inspekcja powierzchni na jednej maszynie

Dzisiaj VMM, jutro mikroskop

Oprócz pomiaru wymiarów, wiele detali wymaga również inspekcji powierzchni. Tam, gdzie wcześniej do pomiarów i inspekcji używano dwóch różnych urządzeń, ZEISS O-INSPECT duo oferuje teraz rozwiązanie 2 w 1. Dzięki intuicyjnej obsłudze urządzenia i kolorowemu obiektywowi Discovery.V12 scout 160 c o wysokiej rozdzielczości 5 MP i 12-krotnym zoomem, zadania inspekcyjne można teraz wykonywać również na urządzeniu pomiarowym. Oprócz standardowego zastosowania z ZEISS CALYPSO, system może być również używany do zadań mikroskopowych za pomocą oprogramowania ZEISS ZEN core.

Nasz największy mikroskop
MIKROSKOPIA

Nasz największy mikroskop

Inspekcja kompletnej powierzchni dużych części

Przecinanie komponentów to już przeszłość: optyczna inspekcja całych dużych elementów, takich jak płytki PCB, ogniwa paliwowe, czy baterie, jest teraz możliwa. Oszczędza to cenne zasoby, czas i redukuje źródła błędów, które powstają w wyniku przenoszenia próbek tam i z powrotem pomiędzy różnymi systemami. ​

Oprócz kontroli dużych części, ZEISS O-INSPECT duo nadaje się również do automatycznej kontroli wielu małych części. Oznacza to, że mikroskop pomiarowy musi być załadowany tylko raz - inspekcja jest następnie przeprowadzana w jednym kroku bez zmiany poszczególnych próbek.

Kolorowa kamera o wysokiej rozdzielczości 5 MP
MIKROSKOPIA

Kolorowa kamera o wysokiej rozdzielczości 5 MP

Precyzyjne wykrywanie wad

Podczas gdy czarno-białe obrazy dostarczają szczegółowe informacje dotyczące kontrastu w technologii pomiarowej, kolorowe obrazy oferują przewagę w analizie mikroskopowej: dzięki rozdzielczości 5 megapikseli, na kolorowych obrazach wyraźnie widoczne są nawet małe wady, co umożliwia precyzyjną inspekcję i ocenę. ZEISS O-INSPECT duo można używać ze znanym oprogramowaniem do mikroskopii ZEISS ZEN core.

Kliknij na okrągłe znaczniki przy obrazkach, aby wyświetlić okno informacyjne ze szczegółami.

Poznaj funkcjonalności ZEISS O-INSPECT duo​
Poznaj funkcjonalności ZEISS O-INSPECT duo​
Duże pole widzenia i wysoka rozdzielczość obrazu
Oświetlenie
Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D

ZEISS VAST XXT umożliwia bardzo precyzyjne skanowanie poprzez rejestrację dużej liczby punktów pomiarowych w jednym ruchu i oferuje dokładność od 1,5 µm + L/250 µm.
Duży zakres pomiarowy

Zakres pomiarowy 800 x 600 x 300 mm umożliwia pomiar i inspekcję dużych części o wadze do 100 kg bez konieczności ich cięcia lub niszczenia. Alternatywnie, dzięki dużej powierzchni pomiarowej, można automatycznie kontrolować wiele małych części w tym samym czasie.
2 różne oprogramowania

ZEISS CALYPSO oferuje rozwiązania wizualizacji pozwalające zaoszczędzić czas. Modele CAD można na siebie nakładać, co pozwala na szybką identyfikację ewentualnych odchyłek (pomiędzy wartościami aktualnymi a wartościami docelowymi). Dzięki szerokiej gamie dodatkowych opcji, ZEISS CALYPSO oferuje również odpowiednie narzędzia do specjalnych wymagań. ZEISS ZEN core to oprogramowanie inspekcyjne do analiz mikroskopowych: Oprócz klasycznego obrazowania, pakiet oprogramowania zawiera także narzędzia do obrazowania, segmentacji, analizy i łączności danych dla mikroskopii multimodalnej w zsieciowanych laboratoriach materiałowych.
Identyfikowalne dane w profesjonalnych raportach

Raportowanie w aplikacji ZEISS PiWeb umożliwia dokumentowanie oraz wizualizację danych pomiarowych jednym kliknięciem, dostarczając przydatne informacje na temat części i procesów.

Optymalny kontrast

Poza oświetleniem koncentrycznym i podświetleniem, ZEISS O-INSPECT duo oferuje również różne opcje sterowania oświetleniem pierścieniowym. Wewnętrzne i zewnętrzne pierścienie LED mogą być włączane i wyłączane oddzielnie lub aktywowane tylko w poszczególnych segmentach.
Analiza membran, kompozycji, uszczelnień, powłok i materiałów stałych

Wewnętrzne i zewnętrzne diody LED

Oświetlenie pierścieniowe składa się z wewnętrznych i zewnętrznych diod LED w kolorze białym. Takie połączenie zapewnia maksymalne oświetlenie obiektu pomiarowego.

Wewnętrzne diody LED

Wewnętrzne diody LED

Wewnętrzne światło pierścieniowe zwiększa kontrast tekstury powierzchni, a tym samym poprawia np. ostrość dla jeszcze bardziej precyzyjnych wyników pomiarów.​

Zewnętrzne diody LED

Zewnętrzne diody LED

Diody LED zewnętrznego pierścienia umożliwiają odfiltrowanie zakłócającego światła otoczenia. Zapewnia to wiele korzyści, np. oświetlanie kolorowych materiałów z wysokim kontrastem.

Oświetlenie segmentowe

Oświetlenie segmentowe

Oświetlenie pierścieniowe składa się z 16 segmentów, którymi można sterować indywidualnie. Zapewnia to optymalne oświetlenie w zależności zgodnie z właściwościami mierzonego obiektu.

Ergonomiczna i wygodna obsługa

ZEISS O-INSPECT duo nie tylko musi spełniać najwyższe standardy techniczne pod względem jakości, niezawodności i szybkości - musi być również bezpieczny, ergonomiczny i łatwy w użyciu. Doskonałość techniczna naszych komponentów jest w pełni skuteczna tylko wtedy, gdy produkt może być łatwo obsługiwany zgodnie z przeznaczeniem. W tym celu ZEISS O-INSPECT został wyposażony w przydatne funkcjonalności.
Opcjonalna paleta

Opcjonalna paleta

Opcjonalna paleta jest odpowiednia do płaskich części i umożliwia łatwy transport oraz bezpieczne mocowanie na maszynie.​

Zdejmowana przednia osłona

Zdejmowana przednia osłona

Dzięki zdejmowanej przedniej osłonie, ZEISS O-INSPECT duo może być wygodnie i łatwo transportowany do żądanej lokalizacji i optymalnie ustawiony za pomocą wózka paletowego.

Półka na panel sterowniczy

Półka na panel sterowniczy

Uchwyt panelu sterowniczego można w prosty sposób umieścić po dowolnej stronie maszyny, zapewniając optymalną dostępność i łatwość obsługi.

CALYPSO czy ZEN core? Oba.

ZEISS O-INSPECT duo oferuje dwa dedykowane programy z określonymi funkcjami do analiz mikroskopowych i zadań metrologicznych. Operatorzy z poszczególnych dziedzin nie muszą zatem uczyć się obsługi nowego oprogramowania.
ZEISS CALYPSO dla zoptymalizowanej kontroli jakości

ZEISS CALYPSO dla zoptymalizowanej kontroli jakości

W kombinacji z ZEISS CALYPSO, współrzędnościowe maszyny pomiarowe od ZEISS wykorzystują swój pełny potencjał. Zoptymalizuj proces kontroli jakości: oprogramowanie wspiera użytkownika przed, w trakcie oraz po zakończeniu pomiaru. Wykonuj pomiary i analizy detali za pomocą różnych dostępnych funkcji, aby w pełni wykorzystać swoją współrzędnościową maszynę pomiarową.​

    • Automatyczne tworzenie planów inspekcji z PMI: ZEISS CALYPSO automatycznie tworzy plany inspekcji w oparciu o dane PMI i obejmuje wszystkie istotne elementy i charakterystyki.
    • Wersjonowanie planów inspekcji:​ Możesz prześledzić wszystkie etapy pracy, ponieważ wszystkie warianty planów inspekcji są wersjonowane. Nie musisz pracować z wieloma kopiami, ponieważ wszystkim można zarządzać bezpośrednio w planie inspekcji.
    • Implementacja i optymalizacja strategii pomiarowych​: Dzięki zintegrowanemu narzędziu do tworzenia strategii pomiarowych możesz zastosować strategie pomiarowe specyficzne dla firmy lub zoptymalizować własne plany inspekcji w oparciu o zalecenia ZEISS.
    • Szczegółowa wizualizacja wyników pomiarowych: Dzięki ZEISS PiWeb reporting, ZEISS CALYPSO oferuje zintegrowane, profesjonalne narzędzie dla protokołów pomiarowych do tworzenia wartościowych wizualizacji wyników.​
    Multimodalna mikroskopia połączona z ZEISS ZEN core​

    Multimodalna mikroskopia połączona z ZEISS ZEN core​

    ZEN core obsługuje więcej niż tylko obrazowanie mikroskopowe. Jest to najbardziej kompleksowy zestaw narzędzi do obrazowania, segmentacji, analizy i łączności danych dla mikroskopii multimodalnej w zsieciowanych laboratoriach materiałowych. Oferuje również rozbudowane funkcje, takie jak kafelkowanie, łączenie (interferometria) i automatyczne wykrywanie błędów.​

      • Jeden interfejs dla wszystkich mikroskopów ZEISS: ZEN core oferuje ujednolicony interfejs użytkownika dla wszystkich mikroskopów i kamer ZEISS. Oprogramowanie pozwala na multimodalny przepływ pracy i łączenie wszystkich danych obrazowych i analitycznych między systemami, laboratoriami i lokalizacjami.​
      • Zaawansowane obrazowanie i zautomatyzowana analiza::​ ZEN core to centrum dowodzenia do konfigurowania zautomatyzowanych funkcji obrazowania, segmentacji i analizy dla mikroskopów świetlnych.
      • Rozwiązania infrastrukturalne dla połączonego laboratorium: ZEN core zapewnia infrastrukturę dla połączonych środowisk laboratoryjnych i ujednolica wszystkie rozwiązania ZEISS do obrazowania i mikroskopii w jednym interfejsie użytkownika.

      Dane techniczne

      Rozmiary

      8/6/3

      Obiektyw

      ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, 5 MP, obraz kolorowy, 2646 x 2056 pikseli

      Oświetlenie

      16-segmentowe oświetlenie pierścieniowe LED białe, oświetlenie koncentryczne i podświetlenie

      Odległość robocza w mm

      55

      Zoom mechaniczny

      12-krotny

      Max. pole widzenia w mm

      16,1 x 12​

      Kompatybilne głowice stykowe

      ZEISS VAST XXT – TL1/TL3​

      Ładowność

      100 kg​

      Dokładność pomiaru stykowego i optycznego

      1D: 1,5 μm + L/250​

      2D: 1,8 μm + L/250 μm​

      3D: 2,2 μm + L/250 μm​

      Oprogramowanie

      ZEISS CALYPSO (metrologia)​

      ZEISS ZEN core (mikroskopia)

      Przykłady zastosowania

      Obejrzyj filmy dotyczące zastosowań i zobacz, jak różne różne obiekty, takie jak wyroby medyczne z tworzyw sztucznych, płytki bipolarne, czy płytki PCB, są mierzone i poddawane inspekcji za pomocą ZEISS O-INSPECT duo.

      • Zablokowana zawartość stron trzecich

        Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami plików cookie. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.
        Pomiar i inspekcja komponentów elektronicznych z ZEISS O-INSPECT duo

      • Zablokowana zawartość stron trzecich

        Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami plików cookie. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.
        Pomiar i inspekcja płytek bipolarnych z ZEISS O-INSPECT duo

      • Zablokowana zawartość stron trzecich

        Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami plików cookie. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.
        Pomiar i inspekcja wyrobów medycznych z tworzyw sztucznych z ZEISS O-INSPECT duo
      Michael Zeller

      Jeśli chodzi o mikroskopię, mamy teraz znacznie więcej przestrzeni na kontrolę komponentów i nie musimy już wycinać próbek.

      Michael Zeller Starszy menedżer ds. monitorowania urządzeń testujących i technik pomiarowych, Zollner Elektronik AG

      Obejrzyj nasze nagranie dotyczące funkcjonalności, oprogramowania i najlepszych praktyk

      Zobacz O-INSPECT duo w akcji i obejrzyj nasze webinarium produktowe, aby poznać ciekawe spostrzeżenia od naszych menedżerów produktu, zobaczysz demonstracje oprogramowania i pierwszą opinię jednego z naszych klientów pilotażowych. Dowiesz się także, jak połączenie mikroskopu i urządzenia pomiarowego usprawnia procesy zapewnienia jakości.

      • Zablokowana zawartość stron trzecich

        Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami plików cookie. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

      Do pobrania

      • Podgląd pliku ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

        ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

        4 MB
        Pobierz

      Skontaktuj się z nami

      Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

      ZEISS Metrology Shop

      Łatwe zamawianie trzpieni, akcesoriów pomiarowych i wiele więcej

      Portal ZEISS Metrology

      Uzyskaj dostęp do pełnej gamy usług dla systemów i oprogramowania

      ZEISS Academy Metrology

      Spersonalizowane szkolenia metrologiczne dostępne w różnych formatach

      Szukasz więcej informacji?

      Napisz do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

      Wczytywanie formularza...

      / 4
      Następny krok:
      • Szczegóły zapytania
      • Dane kontaktowe
      • Dane firmy

      Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.