Centrum szkoleniowo-pomiarowe ZEISS
Pierwszy ośrodek pomiarowy na Śląsku powstał już w 2006 roku w Mikołowie, a następnie został przeniesiony do Tychów, gdzie istnieje do dziś.
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/zeisswpolsce.ts-1705497392651.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=92a98c802c517dc5361e219cd2aa2e73","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/zeisswpolsce.ts-1705497392651.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=33f0867dccc70c84c1d4527a2aec04d7","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/zeisswpolsce.ts-1705497392651.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=b282b73dba1d630cebf8db308bd937d0","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/zeisswpolsce.ts-1705497392651.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=f2d9f16ed0df2dae9f09d99fae6a1799"})
Obecnie w Polsce znajdują się 3 laboratoria usługowo-szkoleniowe ZEISS Quality Excellence Center: w Tychach, w Poznaniu i w Warszawie, w których prowadzimy szkolenia metrologiczne oraz z obsługi naszych maszyn jak również świadczymy usługi pomiarowe.
Każda firma potrzebująca sprawdzać jakość swych wyrobów, może wykonać odpowiednie pomiary w naszych laboratoriach. Dotyczy to usług jednorazowych, jak i systematycznych zleceń na pomiary seryjne.
Wspieramy Państwa w pokonywaniu wyzwań metrologicznych. Oferujemy pełen zakres usług - pomiary na zlecenie, programowanie maszyn, szkolenia (on-line oraz na żywo) oraz wsparcie aplikacyjne.
Części do pomiaru i/lub rysunki techniczne możecie dostarczyć do naszego Centrum osobiście lub wysyłać kurierem.
Profesjonalizm usług zapewnia kadra - doświadczeni metrolodzy, oraz najnowocześniejszy sprzęt pomiarowy. Pomiary wykonujemy na podstawie modeli CAD lub rysunków. Wykonujemy inżynierię odwrotną części. W celu zapewnienia dokładności pomiaru maszyny pracują w pomieszczeniu klimatyzowanym o kontrolowanej temperaturze.
ZEISS Quality Excellence Center
Strzelecka 72
43-109 Tychy
E-Mail: service .metrology .pl @zeiss .com
Telefon: +48 32 720 93 54
ZEISS Quality Excellence Center
Madalińskiego 3
61-509 Poznań
E-Mail: info .metrology .pl @zeiss .com
Telefon: +48 61 894 78 93
ZEISS Quality Excellence Center
Łopuszańska 32
02-220 Warszawa
E-Mail: service .metrology .pl @zeiss .com
Telefon: +48 22 205 55 24
ZEISS Quality Excellence Center
Zapraszamy do skorzystania z usług centrum:
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/measurement-of-new-components-zf.ts-1522140057638.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=1584db23817753cd380823b105ac487d","large":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/measurement-of-new-components-zf.ts-1522140057638.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=b3701c5c932d84ff981cc7a66f9a2b21","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/measurement-of-new-components-zf.ts-1522140057638.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=d42f44a13b2d4f697c4c391b9c3f6cf7","full":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/measurement-of-new-components-zf.ts-1522140057638.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=f78ff632995fd0ac40d1ac5fe11cb809"})
Usługi pomiarowe
- pomiary stykowe i optyczne: długości i kąta, odchyłek kształtu i położenia, kształtu zarysów i chropowatości powierzchni
- digitalizacja powierzchni swobodnych wraz z tworzeniem ich modelu CAD
- analizy nieniszczące tomografem komputerowym
![wsparcie aplikacyjne]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/system-support.ts-1617189618774.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=f688a801ad5afad79206e195d127d67e","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/system-support.ts-1617189618774.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=824c43e3eb9776a5f528a001b787812a","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/system-support.ts-1617189618774.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=fc3a865b57d18227f672868fa1d25d8a","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/system-support.ts-1617189618774.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=1965cd86ed9ef67611c6352a12180ad4"} "wsparcie aplikacyjne")
Wsparcie aplikacyjne
- prowadzenie analiz statystycznych z wykonywanych pomiarów lub na podstawie dostarczonych danych
- obsługa urządzeń pomiarowych klienta z wykorzystaniem CNC
- programowania CNC na zlecenie z wykorzystaniem oprogramowania CALYPSO, UMESS, KUM, HOLOS, GEAR Pro, GON, BLADE Pro, DIMENSION + TIMS, AccteePro
- okresowe sprawdzanie przyrządów pomiarowych, kontrolnych i szablonów
- wzorcowanie współrzędnościowych maszyn pomiarowych z głowicą pomiarową stykową o zakresie pomiarowym 0-3818 mm
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/365daysofprecision/march/training.ts-1523862060641.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=69e5da7a146e0a97cdb0a176c50783a4","large":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/365daysofprecision/march/training.ts-1523862060641.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=03f0656c80261428d0788c197ff0a1c6","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/365daysofprecision/march/training.ts-1523862060641.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=dc240ea4d1e76ccaceba744a710d97c1","full":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/365daysofprecision/march/training.ts-1523862060641.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=db2840b6b1af2fffc1265bd385c5f50d"})
Szkolenia
- szkolenia standardowe
i specjalistyczne z zakresu obsługi oprogramowania pomiarowego i maszyn pomiarowych ZEISS - szkolenia ogólnometrologiczne AUKOM
- szkolenia specjalistyczne, dedykowane do potrzeb
i specyfiki produkcji klienta
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/service-sites/stuttgart/contract-measurement.ts-1520953118389.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=d7442ec7a36564c5fbb0c0ad20e6f914","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/service-sites/stuttgart/contract-measurement.ts-1520953118389.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=3a61ad757567d6bc10d00ffc4c3da114","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/service-sites/stuttgart/contract-measurement.ts-1520953118389.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=3c4e032f4109c31d2d6b89d23cc4552e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/service-sites/stuttgart/contract-measurement.ts-1520953118389.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=fb06ef97c505114fae3425052c16a009"})
Mierzone cechy
- korpusy, obudowy, wały, części i podzespoły lotnicze, maszynowe i motoryzacyjne
- powierzchnie krzywokreślne: matryce, formy, blachy karoseryjne, szyby
- elementy z profilami 2D i 3D: krzywki, szablony, wałki rozrządu, łopatki turbin, prowadnice
- koła zębate walcowe
i stożkowe o zębach prostych
i skośnych/łukowych, ślimaki - inne.
Dojazd
ZEISS Quality Excellence Center
ul. Strzelecka 72
43-109 Tychy
Tel.: 032 720 93 54 Fax: 022 205 55 35
service .metrology .pl @zeiss .com
Certyfikat ISO 9001:2015 dla ZEISS Polska
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/certyfikat_miniaturaiso.ts-1617188207196.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=4de1adcfaf2853f2394f41bb3a01fadc","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/certyfikat_miniaturaiso.ts-1617188207196.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=d1c45bed99538827e95a91863327a74e","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/certyfikat_miniaturaiso.ts-1617188207196.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=7ae13e44b713cfc218f344097161dab6","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/certyfikat_miniaturaiso.ts-1617188207196.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=09a65eb99873e261a8f23493895b3104"})
ZEISS Polska posiada certyfikację ISO 9001:2015 w zakresie sprzedaż, instalacja i serwis urządzeń wysokoprecyzyjnych, optycznych, elektronicznych i medycznych jak również usługi aplikacyjne, szkoleniowe, inżynieryjne i pomiarowe w wyżej wymienionym zakresie.
Aktualny certyfikat został wydany 26-06-2020 roku i jest ważny do 25-06-2023 roku.
Laboratorium Wzorcujące ZEISS (ISO/IEC 17025)
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/pca.ts-1617187784937.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=d37bad9e95b9dbdbc22f4fb002b1493b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/pca.ts-1617187784937.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=f341f27dc2c36c33ae6a31a1144859f5","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/pca.ts-1617187784937.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=e6f58d55094eb00b8b0f970e373123f9","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/ROZNE/pca.ts-1617187784937.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ce69fdb7059369cffcae611065465957"})
Laboratorium działa zgodnie z systemem zarządzania wg normy ISO/IEC 17025:2018 i w zakresie wzorcowania obejmuje: wzorcowanie współrzędnościowych maszyn pomiarowych z głowicą pomiarową stykową o zakresie pomiarowym 0-3818 mm
Wszystkie wzorce wykorzystywane w naszym Laboratorium posiadają aktualne świadectwa wzorcowania wydane przez akredytowane laboratoria wzorcujące. Proces wzorcowania kończy się wydaniem świadectwa wzorcowania.
Zbliżające się szkolenia
Szkolenie |
Termin |
Pobierz |
AUKOM Poziom 1 |
26-30.08.2024 |
|
AUKOM Poziom 2 |
07-11.10.2024 |
|
AUKOM Poziom 3 |
25-29.11.2024 |
|
AUKOM GD&T |
20-22.08.2024 (Wrocław) 04-06.09.2024 06-08.11.2024 |
|
CALYPSO Poziom 1 Podstawowe |
19-23.08.2024 |
|
CALYPSO Poziom 2 Zaawansowane |
09-13.09.2024 |
|
CALYPSO Poziom 3 Ekspert |
18-22.11.2024 |
|
CALYPSO Curve |
23-25.09.2024 |
|
CALYPSO FreeForm |
26-27.09.2024 |
|
CALYPSO GD&T |
brak terminów |
Formularz zgłoszeniowy |
CALYPSO Raportowanie |
brak terminów |
Formularz zgłoszeniowy |
Idealne laboratorium pomiarowe |
24-25.10.2024 |
|
ZEISS INSPECT Optical 3D |
17-19.10.2024 |
|
ZEISS Inspect - analiza GD&T |
30-31.07.2024 |
Zbliżające się seminaria, webinaria ZEISS
Zapraszamy do udziału w bezpłatnych seminariach
Zbliżające się imprezy targowe
Zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska
![]({"small":"https://images.zeiss.com/Corporate/fwv/zib/images/zeiss-group/zib_2-2015_4-2_imt_control_11.ts-1434446053521.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=63d154e0d4c5882f43676f06f6067324","large":"https://images.zeiss.com/Corporate/fwv/zib/images/zeiss-group/zib_2-2015_4-2_imt_control_11.ts-1434446053521.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=05f75c302fb51ed3909788416a240b78","medium":"https://images.zeiss.com/Corporate/fwv/zib/images/zeiss-group/zib_2-2015_4-2_imt_control_11.ts-1434446053521.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=782ccafad8cfcf43bcbd9e9d4e84854b","full":"https://images.zeiss.com/Corporate/fwv/zib/images/zeiss-group/zib_2-2015_4-2_imt_control_11.ts-1434446053521.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=1be97b741f670928e000c25382c3e89c"})
XXV Międzynarodowe Targi Technologii dla Odlewnictwa METAL
Kielce, 24-25.09.2024
Archiwum wydarzeń
Posłuchaj nagrań z wydarzeń archiwalnych![bosello640x480]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/bosello640x480.ts-1630411147549.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=2434274bb035b4ce53e78c6badec5163","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/bosello640x480.ts-1630411147549.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=17ed3c565e342cc115e30aa5578575ad","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/bosello640x480.ts-1630411147549.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=dcca24664198b9aa48524a3d3c80651b","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/bosello640x480.ts-1630411147549.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=9936a63e039223a3f334addc16e82f5b"} "bosello640x480")
![gom640x480]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/gom640x480.ts-1630411138317.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=aae10306492c1eafafbd6b4dae5dd5c2","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/gom640x480.ts-1630411138317.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=cdb63a7a610622fb17ff5d34e7519bf4","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/gom640x480.ts-1630411138317.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=eeeb5b92660d79920f918378563b62c0","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/gom640x480.ts-1630411138317.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=41c4adbbf224ed2e60cfede4ae3afcec"} "gom640x480")
![handsonmetrology640x480]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/handsonmetrlogy640x480.ts-1630411108551.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=8a7a79ff5e9b9534ac8cf6c1183c3bcb","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/handsonmetrlogy640x480.ts-1630411108551.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=fc570d4c8f16c1701f3152b049a67275","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/handsonmetrlogy640x480.ts-1630411108551.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=693c4807197dbc7b66d68d5490467e7f","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/handsonmetrlogy640x480.ts-1630411108551.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=61abe84cf73ce5414d6b12f1ac53d6f7"} "handsonmetrology640x480")
![combined640x480]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/combined_portfolio640x480.ts-1630411095916.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=75de159e5c89af3cad237f57c1bbba07","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/combined_portfolio640x480.ts-1630411095916.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=3bf5ec7971e4c8a3fd84609d6e17fb07","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/combined_portfolio640x480.ts-1630411095916.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=41475c199973e82210e8fc78ce389ca0","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/combined_portfolio640x480.ts-1630411095916.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=01b6aec9ad66a3601ee2f8d8de35191f"} "combined640x480")
![280x280industry4.0.jpg]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/280x280/280x280industry_4.0.ts-1630934690966.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=f127a391175a050fcbc1a96cc2240915","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/280x280/280x280industry_4.0.ts-1630934690966.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=5e2fad83fa875ce11fc1918e14c16869","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/280x280/280x280industry_4.0.ts-1630934690966.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=bd5b4dcebf3d9bdafbc1b27fb6779e61","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/280x280/280x280industry_4.0.ts-1630934690966.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=9afc39650fd454b27d0248adb11c7676"} "280x280industry4.0.jpg")
![additive640]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/additive640.ts-1645537398346.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=e83a4f5bb9d5b7e6ae9ad1db6aec5f92","large":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/additive640.ts-1645537398346.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=f93fcd71ff3f370e72942bd566a64073","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/additive640.ts-1645537398346.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=377113f11d8d11219f78cf8b72468135","full":"https://images.zeiss.com/metrology/poland/img/640x480/additive640.ts-1645537398346.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=35ea3f2693775f499aad9486c540da47"} "additive640")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/Industrial%20Metrology/Image%20&%20Text/224%20x%20n/software_blade-pro.ts-1343804645064.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=5a12942675ca6454039fa3a32f5c4c99","large":"https://images.zeiss.com/Industrial%20Metrology/Image%20&%20Text/224%20x%20n/software_blade-pro.ts-1343804645064.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=f2271fbe7e24776e39a94d54b83eda67","medium":"https://images.zeiss.com/Industrial%20Metrology/Image%20&%20Text/224%20x%20n/software_blade-pro.ts-1343804645064.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=7535f5fb25cba577e7a752758711d37d","full":"https://images.zeiss.com/Industrial%20Metrology/Image%20&%20Text/224%20x%20n/software_blade-pro.ts-1343804645064.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=43815889a06a45776fe9081a460bfad0"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/software-release-2023/x-ray/zeiss-insp-xray_highlights_defects-2d-3d.ts-1694164635071.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=6d00d162c5225b1f6aed49faaf3856cd","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/software-release-2023/x-ray/zeiss-insp-xray_highlights_defects-2d-3d.ts-1694164635071.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=9b1a1af03e51d286a18b0672abd29562","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/software-release-2023/x-ray/zeiss-insp-xray_highlights_defects-2d-3d.ts-1694164635071.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=563138494f2855d3b945ddc345bf9d30","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/software-release-2023/x-ray/zeiss-insp-xray_highlights_defects-2d-3d.ts-1694164635071.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=feb8969020263ad1827cb50c7da017ab"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/images-rock-5-10/zeiss-innovation-rock-05-o-series-4-3.ts-1600165451603.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=be88dc00e3eca498e605df6c9f0b99a3","large":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/images-rock-5-10/zeiss-innovation-rock-05-o-series-4-3.ts-1600165451603.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=e54513c331528ee089e992ba58a73818","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/images-rock-5-10/zeiss-innovation-rock-05-o-series-4-3.ts-1600165451603.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=9c4bd3f5c34157b9d6782fe0742cb18e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/images-rock-5-10/zeiss-innovation-rock-05-o-series-4-3.ts-1600165451603.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=4acd56b05f26c08cea01dd3cac79c78c"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-06-microscopy-4-3.ts-1600328876014.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=e4731094929b450fbfc9c415b40ea3ba","large":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-06-microscopy-4-3.ts-1600328876014.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=13f0a5e13097f8b53b651785f1f0c3e9","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-06-microscopy-4-3.ts-1600328876014.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=d13b71c5552604bf4202f8f3f351e680","full":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-06-microscopy-4-3.ts-1600328876014.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=b10ea2e69ed1d0fae6657abf08d2319f"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-07-defect-detection-4-3.ts-1600165453524.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=47ef66f2cce5c72c419d40d09044353e","large":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-07-defect-detection-4-3.ts-1600165453524.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=cfdc323677fae93fa7714cc39cb43205","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-07-defect-detection-4-3.ts-1600165453524.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=d3d7bb31b8c9d76d6a2063dc4117d812","full":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-07-defect-detection-4-3.ts-1600165453524.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=0ef993c53250a98681dce78c68b33d1d"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-09-nev-4-3.ts-1600165455404.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=374ffd0df3f01135d54274c7eccffad4","large":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-09-nev-4-3.ts-1600165455404.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=4f2095881913f50725d5a91f1705cac3","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-09-nev-4-3.ts-1600165455404.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=d0203b6353937ad036d47eac89d23f70","full":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/2020-rocks/zeiss-innovation-rock-09-nev-4-3.ts-1600165455404.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=0c2d5fa37b7bbb5cc11dc343fbdb8ce3"})
Czy jesteś zainteresowany naszymi usługami?
Napisz do nas!
Wypełnij formularz kontaktowy, a nasi specjaliści skontaktują się z Tobą, aby odpowiedzieć na Twoje pytania.