ZEISS Visioner 1

Mikroskop cyfrowy z technologią MALS™, umożliwiający wykonywanie kontroli optycznej z pełną głębią ostrości w czasie rzeczywistym

Klasyczne systemy kontroli optycznej oferują niewielką głębię ostrości, co oznacza, że część próbki może być nieostro odwzorowana a to z kolei może skutkować niezauważeniem jej cech, zmęczeniem użytkownika i brakiem pełnej kontroli.

Mikroskop ZEISS Visioner 1 rewolucjonizuje kontrolę optyczną i tworzenie dokumentacji. Wyposażony w unikatową technologię MALSTM (Micro-mirror Array Lens System - system matrycy z mikrolustrami) umożliwia po raz pierwszy w historii obrazowanie w czasie rzeczywistym z pełną głębią ostrości, za pierwszym i każdym kolejnym razem.

Większa głębia ostrości (EDoF) w czasie rzeczywistym

EDoF to proces polegający na łączeniu wielu obrazów na płaszczyźnie ogniskowej w celu uzyskania jednego ostrego obrazu.

W przypadku klasycznych mikroskopów może to być czasochłonnym i skomplikowanym zadaniem.
Mikroskop ZEISS Visioner 1 umożliwia użytkownikowi oglądanie próbki z pełną głębią ostrości w czasie rzeczywistym, bez konieczności składania serii obrazów w osi Z i wykonywania ich obróbki.

Unikalna technologia MALS™ (Micro-mirror Array Lens System) zapewnia poszerzoną głębię ostrości (EDoF) w czasie rzeczywistym.

Zmieniamy zasady optyki

Technologia MALS™ (Micro-mirror Array Lens System - system matrycy z mikrolustrami)

Technologia MALS™ umożliwia wykonywanie kontroli optycznej z pełną głębią ostrości przy różnicach wysokości sięgających 69 mm*. Bez konieczności składania obrazów wzdłuż osi Z ani zmiany ustawienia ostrości.

Zastosowanie systemu matrycy mikroluster (MALS™) umożliwia wygenerowanie "wirtualnych soczewek" o znacznie różnych krzywiznach, a co za tym idzie – płaszczyznach ostrości. Można to uzyskać poprzez zsynchronizowaną zmianę orientacji poszczególnych mikroluster w matrycy.

Szybka zmiana krzywizny takiej „wirtualnej soczewki” umożliwia błyskawiczne wyostrzenie oraz uzyskiwanie i dokumentowanie obrazów z pełną głębią ostrości w czasie rzeczywistym.

Mikroskop ZEISS Visioner 1 z technologią MALS™

  • Aż 100-krotnie większa użyteczna głębia ostrości
  • Umożliwia ostre obrazowanie przy różnicach wysokości sięgających 69 mm*
  • Matryca mikroluster z krzywiznami (zmiennymi) ustawionymi na płaszczyźnie
  • Każde mikrolustro ma wymiary około 100 x 100 µm
  • Każde mikrolustro może obracać się i ustawiać w celu uzyskania powierzchni optycznych o zmiennych krzywiznach
  • Bez konieczności składania obrazów w osi Z ani ponownego ustawiania ostrości

Najszybsza wizualizacja 3D w połączeniu z tworzeniem dokumentacji

Mikroskop ZEISS Visioner 1 nie tylko upraszcza zadania uzyskiwania i dokumentowania obrazów, ale także przyspiesza kontrolę optyczną komponentów dzięki większej głębi ostrości (EDoF) dostępnej w czasie rzeczywistym, zapewniając tym samym większą przepustowość.

Przedłużenie ludzkich zmysłów

Ergonomia pracy

Wyeliminuj zmęczenie spowodowane przez ciągłe wpatrywanie się w okulary mikroskopu i pracuj wydajniej dzięki skoncentrowaniu się na wykonywaniu kontroli zamiast ciągłego regulowania mikroskopu.

Ponieważ wszystkie szczegóły są wyświetlane w czasie rzeczywistym, z pełną głębią ostrości na jednym ekranie, kontrola optyczna wydaje się bardziej naturalną czynnością, stanowiącą przedłużenie ludzkich zmysłów.

Postawa podczas pracy z klasycznym mikroskopem
Postawa podczas pracy z klasycznym mikroskopem
Ergonomiczna postawa podczas pracy z mikroskopem ZEISS Visioner 1
Ergonomiczna postawa podczas pracy z mikroskopem ZEISS Visioner 1

Zastosowania

Elec-traditional-scale
Kontrola optyczna przy użyciu klasycznego mikroskopu
Elec-visioner-scale
Kontrola optyczna przy użyciu mikroskopu ZEISS Visioner 1
Bulb-traditional-scale2
Kontrola optyczna przy użyciu klasycznego mikroskopu
Bulb-visioner-scale2
Kontrola optyczna przy użyciu mikroskopu ZEISS Visioner 1
Image-FreeModeAcquisition-05
Kontrola optyczna przy użyciu klasycznego mikroskopu
Image-FreeModeAcquisition-06--01
Kontrola optyczna przy użyciu mikroskopu ZEISS Visioner 1

Porównanie obrazów igły, płytki elektrycznej i opornika uzyskanych przy użyciu klasycznej metody kontroli optycznej i mikroskopu ZEISS Visioner 1. Dzięki nowej technologii MALS™ kontrolowany przedmiot można oglądać z pełną głębią ostrości, za pierwszym i każdym kolejnym razem.

Pobierz więcej informacji

Solutions brochure Semiconductor EN PDF

Solutions brochure Semiconductor EN PDF
pages: 24
file size: 14136 kB

ZEISS Application Note Visioner 1 Blade Inspection Flyer

ZEISS Application Note Visioner 1 Blade Inspection Flyer
pages: 3
file size: 2230 kB

ZEISS IQS Portfolio Overview EN

ZEISS IQS Portfolio Overview EN
pages: 56
file size: 6545 kB

ZEISS Visioner1 Accessories DE

ZEISS Visioner1 Accessories DE
pages: 3
file size: 1996 kB

ZEISS Visioner1 Accessories EN

ZEISS Visioner1 Accessories EN
pages: 3
file size: 1998 kB

ZEISS Visioner 1 Brochure EN

ZEISS Visioner 1 Brochure EN
pages: 7
file size: 5851 kB

ZEISS Visioner 1 Poster, EN

ZEISS Visioner 1 Poster, EN
pages: 1
file size: 1097 kB