Indywidualne szkolenia z metrologii
Jako technik metrolog lub kierownik ds. jakości w laboratorium ponosisz odpowiedzialność za dokładność wyników pomiarów oraz efektywność ich wykonywania. W tym celu musisz codziennie korzystać ze swoich umiejętności i praktycznej wiedzy w zakresie metrologii. Dlatego też tak ważny jest nieustanny rozwój tych umiejętności i odświeżanie wiedzy w różnych dziedzinach metrologii.
Akademia Metrologii ZEISS oferuje wsparcie w realizacji zadań pomiarowych i umożliwia nieustanne pogłębianie wiedzy oraz doskonalenie umiejętności w zakresie metrologii. Ponad 35 lat doświadczenia w prowadzeniu szkoleń w zakresie metrologii czyni z firmy ZEISS kompetentnego partnera. Bądź niezastąpionym zasobem swojej firmy: stań się rozwiązaniem.
Akademia Metrologii ZEISS:
- Bogata oferta szkoleń i kursów z dziedziny metrologii
- Szkolenia online i stacjonarne
- 210 certyfikowanych specjalistów w 60 placówkach szkoleniowych w 24 krajach
- Możliwość wybierania poszczególnych kursów w zależności od indywidualnych celów i umiejętności
Nasza oferta szkoleń:
znajdź rozwiązanie odpowiadające Twoim potrzebom w zakresie szkoleń z dziedziny metrologii
Niezależnie od tego, czy dopiero stawiasz pierwsze kroki w metrologii, szkolisz się, by zostać wykwalifikowanym metrologiem ZEISS, czy też specjalizujesz się w metrologii współrzędnościowej, Akademia Metrologii ZEISS oferuje liczne kursy i materiały szkoleniowe, dostosowane do Twoich indywidualnych potrzeb oraz poziomu wiedzy. Nasi specjaliści zapewnią Ci wparcie na każdym kroku w trakcie seminariów i kursów.
Szkolenia poświęcone podstawom metrologii, opogramowaniu i technologiom
Wybierz interesujący Cię temat
Wiedza na wyciągnięcie ręki
Nasza oferta szkoleń elektronicznych
Poszerzaj swoją wiedzę – w dowolnym miejscu i czasie! Akademia Metrologii ZEISS oferuje bogaty wybór stałych kursów online poświęconych metrologii, stanowiących uzupełnienie naszych szkoleń i dostępnych niezależnie od tego, gdzie jesteś.
Formaty szkoleń dopasowane do potrzeb
W jednej z naszych lokalizacji lub na miejscu u klienta
Akademia Metrologii ZEISS oferuje szkolenia w 63 lokalizacjach w 25 krajach, prowadzone przez ponad 210 certyfikowanych specjalistów. Zarezerwuj szkolenie z dziedziny metrologii bezpośrednio w jednym z centrów szkoleniowo-pomiarowych ZEISS lub zamów szkolenie stacjonarne w swojej firmie.
Portal ZEISS: Twoja ścieżka do fachowej wiedzy
W portalu ZEISS znajdziesz pełną ofertę naszych stacjonarnych szkoleń w dziedzinie metrologii, seminariów online na żywo, kursów e-learningowych i samouczków wideo, spośród których możesz wybrać najlepsze dla siebie rozwiązanie. Zapoznaj się z datami i lokalizacjami najbliższych szkoleń i niezwłocznie zapisz się na kurs. Nasz katalog szkoleń zawiera czytelne zestawienie wszystkich dat i innych niezbędnych informacji.
Szkolenia w dziedzinie metrologii, oferowane przez Akademię Metrologii ZEISS, przyniosą korzyści dla Twojej firmy, Twojej wiedzy i Twojej kariery
Dzięki nim staniesz się ekspertem i będziesz mieć możliwość nie tylko pogłębiania swojej wiedzy z obszaru codziennie wykonywanych pomiarów, lecz także śledzenia na bieżąco najnowszych trendów i norm. Możesz samodzielnie wybrać, które z kursów dostępnych w naszej bogatej ofercie szkoleń najlepiej odpowiadają Twoim potrzebom jako technika pomiarowego.
Rozwijaj się
DOGŁĘBNA WIEDZA
Nasze szkolenia w zakresie metrologii oferują praktyczne rozwiązania krok po kroku do stosowania w codziennych pomiarach. Umożliwiają również zapoznanie się z najnowszymi trendami i technologiami w dziedzinie metrologii. Wybierz ze zróżnicowanej oferty kursów poświęconych podstawowym umiejętnościom w dziedzinie metrologii, oprogramowaniu, akcesoriom lub sondom te, które najlepiej pasują do Ciebie i Twoich potrzeb.
Bądź na bieżąco
TWOJA OSOBISTA ŚCIEŻKA EDUKACYJNA
Niezależnie od tego, czy dopiero rozpoczynasz swoją karierę zawodową, jesteś doświadczonym technikiem-metrologiem czy dążysz do tego, by stać się technikiem pomiarowym ZEISS: nasze szkolenia umożliwią Ci wybranie właściwej ścieżki edukacyjnej, dostosowanej do poziomu Twojej wiedzy i aspiracji zawodowych. Po ukończeniu naszego szkolenia w dziedzinie metrologii otrzymasz uznawany na całym świecie certyfikat potwierdzający Twoje kompetencje.
Zostań ekspertem
NIEUSTANNA NAUKA
Z każdą kolejną sesją szkoleniową możesz ugruntowywać swoją ekspercką wiedzę w danej dziedzinie. Nasi specjaliści posługują się na co dzień urządzeniami pomiarowymi i są w stanie odpowiedzieć na wszelkie pytania, zarówno podczas stacjonarnej sesji, jak i realizowanego na żywo szkolenia online. Aby uzupełniać i rozwijać swoją wiedzę, możesz również sięgnąć do naszych książek, e-booków lub aplikacji, które zawierają wiele przydatnych informacji na temat metrologii. Nasza oferta kursów e-learningowych poświęconych metrologii umożliwia także samodzielne i niezależne doskonalenie umiejętności oraz wiedzy.
Większa wiedza skutkuje większą produktywnością: oto, jak Twoja firma może skorzystać z udziału swoich pracowników w szkoleniach z dziedziny metrologii
Precyzja, produktywność, konkurencyjność: Twoja firma będzie tak dobra, jak dobrzy będą jej pracownicy. Dzięki regularnym szkoleniom poświęconym metrologii Twój zespół będzie zawsze na bieżąco z najnowszymi osiągnięciami technologicznymi w dziedzinie pomiarów. Specjalistyczna wiedza na temat urządzeń i akcesoriów zapewnia precyzyjne pomiary, bezbłędne dane pomiarowe oraz efektywne zarządzanie jakością w laboratorium.
Zwiększ produktywność
Większa produktywność dzięki wykwalifikowanym specjalistom: fachowa wiedza pracowników w zakresie metrologii umożliwia większą stabilność procesów i efektywność zarządzania jakością w laboratorium. Dzięki seminariom i szkoleniom ukierunkowanym na wiedzę praktyczną, pracownicy będą w stanie uzyskiwać dane pomiarowe zgodne ze standardami, unikając przy tym typowych błędów.
Zyskaj przewagę nad konkurencją
W ramach każdego szkolenia nasi eksperci zapewniają szkolenia dostosowane do potrzeb innowacyjnych przedsiębiorstw, mających duże wymagania w dziedzinie metrologii. Skorzystaj z możliwości ustawicznego szkolenia pracowników, aby zacząć stosować najnowsze rozwiązania w zakresie zarządzania jakością. Systemy, sprzęt i oprogramowanie są nieustannie doskonalone i powinny rozwijać się razem z firmą. Zadbaj o swoją konkurecyjność w branży metrologicznej dzięki cyklicznym szkoleniom.
Ustanawiaj światowe standardy
Twoja firma ma wiele lokalizacji na całym świecie? Akademia Metrologii ZEISS może się poszczycić 63 placówkami szkoleniowymi w 25 krajach, zatrudniającymi łącznie 210 certyfikowanych specjalistów, dzięki czemu jest w stanie zapewnić technikom metrologii na całym święcie ujednolicony dostęp do wiedzy. Jeśli żadna z naszych lokalizacji nie znajduje się wystarczająco blisko, nasi specjaliści są również w stanie poprowadzić seminaria i szkolenia dostosowane do potrzeb Twojej firmy na miejscu, w Twojej lokalizacji. Dzięki temu pracownicy będą mieli szansę sprawdzić zdobytą wiedzę w praktyce, na użytkowanym sprzęcie pomiarowym i mierzonych częściach.
Odwiedź Centra Metrologiczne ZEISS na całym świecie.
Zapoznaj się z naszą ofertą szkoleń i zarezerwuj szkolenie.
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/training/eternity-learning-screen.ts-1543571319861.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=264%2C165%2C1386%2C1039&w=640&s=cf99a7ab947d43f34b93c75137ab1a1d","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/training/eternity-learning-screen.ts-1543571319861.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=264%2C165%2C1386%2C1039&w=1280&s=ed955904be440878d2e308fdee0bdb76","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/training/eternity-learning-screen.ts-1543571319861.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=264%2C165%2C1386%2C1039&w=832&s=86400c38c628884084d008c1b6290478","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/training/eternity-learning-screen.ts-1543571319861.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=264%2C165%2C1386%2C1039&w=1920&s=d0215ef7b26a3600a9eb1d1f1160cc8a"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/hu/zeiss_aukom-metrologist.ts-1654167794881.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=17f97be09ee7b99e9072535b08230ae1","large":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/hu/zeiss_aukom-metrologist.ts-1654167794881.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=c5d6036f4834cedd61385a4fb890ce27","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/hu/zeiss_aukom-metrologist.ts-1654167794881.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=767712b5eda9473ee13b7eac95dd18a6","full":"https://images.zeiss.com/metrology/campaigns/hu/zeiss_aukom-metrologist.ts-1654167794881.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=5fefeeac016f4cfa69bc6e9ec2fd56ef"})
ZEISS Metrologists stay up-to-date
- through software update training courses - whether live online, as eLearning or in person
- through AUKOM update seminars
- through participation in the ZEISS Community
Qualification as ZEISS Metrologist
Support your production process and ensure your quality with reliable, meaningful measurement results.
These are the skills that distinguish you:
- You have measurement strategy competence as well as basic knowledge of standards and terminology through AUKOM seminars.
- You master your measurement and reporting software confidently and comprehensively
- You can confidently interpret GD&T symbols according to ISO-GPS and ASME thanks to your basic and software knowledge
Minimum requirements for the ZEISS Metrologist Certificate:
- AUKOM 1, 2, GD&T, update if applicable (AUKOM Measurement Technician Certificate).
- Measurement software courses Level 1 and 2 (e.g. CALYPSO 1, 2, GD&T, Reporting)
Validity:
two years. The validity is extended by a further two years through participation in further training courses or information events.
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/akol-hast-unrelenting-curiosity.ts-1522140042440.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=771%2C0%2C2829%2C2828&w=640&s=0a0e1fdc4b38d6f0e7ae1718772bf8d9","large":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/akol-hast-unrelenting-curiosity.ts-1522140042440.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=771%2C0%2C2829%2C2828&w=1280&s=110be48b72392b5864392544b61377ef","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/akol-hast-unrelenting-curiosity.ts-1522140042440.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=771%2C0%2C2829%2C2828&w=832&s=70dc1cfc8c432a0453ce9e9f70fac6c8","full":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-friedrichshafen-training/akol-hast-unrelenting-curiosity.ts-1522140042440.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=771%2C0%2C2829%2C2828&w=1920&s=c16daa5eaae6c7035c0cc21478d80b3b"} "zf-metrologist-akol")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/fibertech/fiber-tech-2.ts-1555329927464.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=201%2C0%2C1440%2C1440&w=640&s=caf7a22f8b7531bbe8e90b5699cae3f4","large":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/fibertech/fiber-tech-2.ts-1555329927464.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=201%2C0%2C1440%2C1440&w=1280&s=d0f63743f1eded11809918d7a8c0fe4e","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/fibertech/fiber-tech-2.ts-1555329927464.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=201%2C0%2C1440%2C1440&w=832&s=4b8a63610a75eda2739ae5c14a1c4637","full":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/fibertech/fiber-tech-2.ts-1555329927464.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=201%2C0%2C1440%2C1440&w=1920&s=0955a21ffb8c501f2c2aa568d5f4f0f3"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/festo/juliane-westermann-as-festo.ts-1618216413583.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=52a1742bc3e58670f3f54d855bee99bc","large":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/festo/juliane-westermann-as-festo.ts-1618216413583.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=9f3a7fdc9a1ed3cd15b4fc520c198753","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/festo/juliane-westermann-as-festo.ts-1618216413583.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=6c83f5b06dcf70796dae6845281f9666","full":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/festo/juliane-westermann-as-festo.ts-1618216413583.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=fe2eac47ff5d9ff944cf4f33e7bba624"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-aukom-management/klaus-schabel-aukom.ts-1533131610183.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=ec84ca9fcd247bd55ca3dc45a3cb5ec6","large":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-aukom-management/klaus-schabel-aukom.ts-1533131610183.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=3959134d9b1394f336c39541411a9c6b","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-aukom-management/klaus-schabel-aukom.ts-1533131610183.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=d7f55ca3d42669994221aaca1ca1e23e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/successtories/zf-aukom-management/klaus-schabel-aukom.ts-1533131610183.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=b67411f74557572aadad83ad9f9ee2ad"} "Aukom Management with Klaus Schabel")
![Improving Yield with Holistic Quality Inspection and Correlation thanks to a selection of products from the ZEISS portfolio]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/additive-manufacturing/zeiss-from-powder-to-performance.ts-1667462475450.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=89317329a40d88ace96f855fdec2f3aa","large":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/additive-manufacturing/zeiss-from-powder-to-performance.ts-1667462475450.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=14c9550db4a323b229c5284052298176","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/additive-manufacturing/zeiss-from-powder-to-performance.ts-1667462475450.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=a66ebe294726dde30fc4710d0123df40","full":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/additive-manufacturing/zeiss-from-powder-to-performance.ts-1667462475450.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=d69c4c857948c773ee0d2380cecc6067"} "ZEISS ManuFACT - From Powder to performance")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/caligo.ts-1543407662261.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=342%2C0%2C900%2C900&w=640&s=db71374d1e2da9d7f23d613698b01221","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/caligo.ts-1543407662261.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=342%2C0%2C900%2C900&w=1280&s=254540369a84f39fde9a462766b5d391","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/caligo.ts-1543407662261.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=342%2C0%2C900%2C900&w=832&s=aeb2439c66e5c5d4586ed0bf910c4976","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/caligo.ts-1543407662261.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=342%2C0%2C900%2C900&w=1920&s=760e98360fcf24e27be5e0b97a82702c"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-piweb-planner-icon.ts-1542726436594.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C21%2C2469%2C2470&w=640&s=43cedf84bc9c95f4b381fc23cae6b09d","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-piweb-planner-icon.ts-1542726436594.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C21%2C2469%2C2470&w=1280&s=140a55908224339ba173afda00753a05","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-piweb-planner-icon.ts-1542726436594.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C21%2C2469%2C2470&w=832&s=3154cb8c0ee3cf8e0ea08430dc18898a","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-piweb-planner-icon.ts-1542726436594.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C21%2C2469%2C2470&w=1920&s=1d5b6ee6319bb39a4390d5fc5c1d0239"}){kind=icon}
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-gear-pro-icon.ts-1542726436564.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C2407%2C2407&w=640&s=9b6d58a8acfd48e4ab1e40250cbed802","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-gear-pro-icon.ts-1542726436564.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C2407%2C2407&w=1280&s=9267891ac1de4e432a144086cb8d6fb1","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-gear-pro-icon.ts-1542726436564.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C2407%2C2407&w=832&s=d55a5a92e202c838e48b445fb71be07d","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/zeiss-gear-pro-icon.ts-1542726436564.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C2407%2C2407&w=1920&s=0a11b135de4327bdac29ae9985ef9cc1"}){kind=icon}
![Sklep metrologiczny ZEISS]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/accessories/metrologyshop-keyvisual.ts-1594643880588.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=699%2C0%2C1135%2C639&w=640&s=2d4d1a78b0a7e2bb7349bf894f5bb36b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/accessories/metrologyshop-keyvisual.ts-1594643880588.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=699%2C0%2C1135%2C639&w=1280&s=38761ce679f0d7a790ee100b98d1fa28","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/accessories/metrologyshop-keyvisual.ts-1594643880588.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=699%2C0%2C1135%2C639&w=832&s=5cc7623bbe983fcc4f335a1addb223f0","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/accessories/metrologyshop-keyvisual.ts-1594643880588.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=699%2C0%2C1135%2C639&w=1920&s=260099cea2a61faf12e8aa2d9061029e"} "Sklep metrologiczny ZEISS")
![CONTURA – a bridge-type measuring machine from ZEISS for flexible and reliable quality assurance in the compact class.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/contura/zeiss-contura-2019.ts-1556807371038.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1909%2C1080&w=640&s=3c47e52bfd9ac802ea8e7bc24fd556d9","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/contura/zeiss-contura-2019.ts-1556807371038.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1909%2C1080&w=1280&s=dd0673b090ec6927c156cec0d1772e54","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/contura/zeiss-contura-2019.ts-1556807371038.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1909%2C1080&w=832&s=870829fbf791be8bdb4b588e551aecd5","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/contura/zeiss-contura-2019.ts-1556807371038.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1909%2C1080&w=1920&s=24a7c5cd2769aa489ee3fe5d6d488db7"} "ZEISS CONTURA - The Reference Machine in the Compact Class")
![ZEISS METROTOM Computed tomography system]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=640&s=1871cff4ca734b3b143e896cde5e0369","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=1280&s=6663cc047fa2a898a47bc404ee1fafb7","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=832&s=9ebc98299d8ee92ccb13bbfd202c377b","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_4x3.ts-1619593614412.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=415%2C0%2C2441%2C2441&w=1920&s=f73a3b19a12205297baf597c3728d6dd"} "ZEISS METROTOM Computed tomography system")
![ZEISS METROTOM 1 - Computed tomography system]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=640&s=82b803a65b6e92183dc5d30b5fbb6ff7","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=1280&s=b9bf16b6bc779db298764804434ed8dd","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=832&s=d8af39aeef8efc0c1d127435cd5b568e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom1/metrotom_1_2020_v4.ts-1618477462990.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=1903%2C1368%2C2217%2C2217&w=1920&s=983adbb8eeea80e780a6a49071dc57f5"} "ZEISS METROTOM 1 - Computed tomography system")
![ZEISS METROTOM 6 scout - CT o wysokiej rozdzielczości]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/metrotom-6-scout.ts-1591365524160.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=321%2C0%2C1080%2C1080&w=640&s=eee2bde0467cfe3115207329cc223366","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/metrotom-6-scout.ts-1591365524160.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=321%2C0%2C1080%2C1080&w=1280&s=2e6e84e3f1f0861d3e703cc742b81bf1","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/metrotom-6-scout.ts-1591365524160.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=321%2C0%2C1080%2C1080&w=832&s=ed1bf08268f9d43eac75affaa97c6175","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/metrotom-6-scout.ts-1591365524160.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=321%2C0%2C1080%2C1080&w=1920&s=7bd77d4d711698835e780c2d15e5c6f1"} "ZEISS METROTOM 6 scout")
![ZEISS MICURA is the solution for new demands in industrial production where parts are becoming increasingly compact and accuracy requirements are rising]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/micura/zeiss_micura_rotarytable.ts-1678364380999.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=fe75bbe443a6cae5655f1095aa0c38a0","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/micura/zeiss_micura_rotarytable.ts-1678364380999.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=cf92b1bfb110e746dfbbfc6680a71564","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/micura/zeiss_micura_rotarytable.ts-1678364380999.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=a772462641da719368595ececdce91e5","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/micura/zeiss_micura_rotarytable.ts-1678364380999.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=48076bb025845767bb7b856bacd8db7d"} "ZEISS MICURA - Maximum Precision for Small Parts")
![The large bridge coordinate measuring machine ZEISS MMZ G meets highest demands: they feature the largest measuring range of all measuring machines offered by ZEISS and offer you unparalleled accuracy.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-g/zeiss-mmz-g-product-image.ts-1562156709872.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1921%2C1081&w=640&s=0e3958c59be48dac5b3f9793739d0d76","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-g/zeiss-mmz-g-product-image.ts-1562156709872.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1921%2C1081&w=1280&s=796b54e6789b3414759bb87fd37dcd02","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-g/zeiss-mmz-g-product-image.ts-1562156709872.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1921%2C1081&w=832&s=fbe4ed4b645bbcf9ea5c4ef4f523fcf4","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-g/zeiss-mmz-g-product-image.ts-1562156709872.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1921%2C1081&w=1920&s=a3da825ca5a328d1df9ea0e476ee9a89"} "ZEISS MMZ G: Bridge measuring maschine with large measuring volume")
![The coordinate measuring machine ZEISS MMZ M is ideal for checking complex workpieces, especially those with tight tolerances.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-m/zeiss-mmz-m-product-image.ts-1562158179898.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=640&s=684db719ba3a53e6a74d98fa407a89d6","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-m/zeiss-mmz-m-product-image.ts-1562158179898.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=1280&s=868e38b034c0a6f75b5a276b84a7ddf4","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-m/zeiss-mmz-m-product-image.ts-1562158179898.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=832&s=1458d575b4fded8d6a6442811bd04a19","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-m/zeiss-mmz-m-product-image.ts-1562158179898.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=1920&s=946dc0cd94ba1de8697413132b0a6953"} "ZEISS MMZ M: For measurements of complex parts")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-t/zeiss-mmz-t-product-image.ts-1562157273710.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=640&s=d58389bbe583c70dfc0ca36f4edb7261","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-t/zeiss-mmz-t-product-image.ts-1562157273710.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=1280&s=f1a1eeb7b0b58d2f5e6f040b030319c3","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-t/zeiss-mmz-t-product-image.ts-1562157273710.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=832&s=2b34c85d893d0293e112895862812cd9","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/large-cmm/mmz-t/zeiss-mmz-t-product-image.ts-1562157273710.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C0%2C1911%2C1078&w=1920&s=024b71308d3ff1c90a22148c8be89f7c"} "ZEISS MMZ T: the largest measuring volume amongst the table bridge-type measuring machines")
![ZEISS O-DETECT multisensor measuring machine]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-detect/o-detect.ts-1639734127983.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=382%2C0%2C2247%2C2247&w=640&s=205052057944c07a62b881d4c2feea16","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-detect/o-detect.ts-1639734127983.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=382%2C0%2C2247%2C2247&w=1280&s=cb7af885d8eff087690f384b8c5ffb13","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-detect/o-detect.ts-1639734127983.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=382%2C0%2C2247%2C2247&w=832&s=f804fb0ca6df902adaef19b95bdff172","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-detect/o-detect.ts-1639734127983.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=382%2C0%2C2247%2C2247&w=1920&s=70b9142f0352813657256b760c742dc1"} "ZEISS O-DETECT multisensor measuring machine")
![ZEISS O-INSPECT with a measuring range 5/4/3 for tactile and optical measurements]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect/zeiss-o-inspect-product-picture.ts-1522329488275.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=433%2C0%2C1080%2C1080&w=640&s=ab62770b4899b6d472cb63a2791e941c","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect/zeiss-o-inspect-product-picture.ts-1522329488275.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=433%2C0%2C1080%2C1080&w=1280&s=bbcec1cbf32d49cba6b0334abdbd3eaa","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect/zeiss-o-inspect-product-picture.ts-1522329488275.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=433%2C0%2C1080%2C1080&w=832&s=284356a3503f443070a2e2086f8fa8c7","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect/zeiss-o-inspect-product-picture.ts-1522329488275.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=433%2C0%2C1080%2C1080&w=1920&s=203dc71a3d2d3064e72246ab1a3cf158"} "ZEISS O-INSPECT multisensor measuring machine")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/spectrum/zeiss-spectrum-2.ts-1571650313409.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=121%2C0%2C1410%2C1410&w=640&s=14bf0465e11ea865f2acb403a23b7d11","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/spectrum/zeiss-spectrum-2.ts-1571650313409.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=121%2C0%2C1410%2C1410&w=1280&s=6dc0bb1797c6e8dabbbd76cf625f2a90","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/spectrum/zeiss-spectrum-2.ts-1571650313409.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=121%2C0%2C1410%2C1410&w=832&s=cb1598ad6b99be1fb9317ccb11daca9b","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/spectrum/zeiss-spectrum-2.ts-1571650313409.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=121%2C0%2C1410%2C1410&w=1920&s=e039cb0fa32e56b0c4c803fd6a5513e4"})
![The high-end machine combines precision at the limits of what is technically feasible with a measuring range of nearly one cubic meter]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/xenos/zeiss-xenos-product-image.ts-1522246708308.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=429%2C0%2C1080%2C1080&w=640&s=9a358eabc3778dfc8b2cfc74d47bdfd5","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/xenos/zeiss-xenos-product-image.ts-1522246708308.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=429%2C0%2C1080%2C1080&w=1280&s=8af4b5363799e53dd00921a1e8e959be","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/xenos/zeiss-xenos-product-image.ts-1522246708308.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=429%2C0%2C1080%2C1080&w=832&s=7dbc56c7010f63aaad22d3378f66279e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/cmms/bridge-type-cmm/xenos/zeiss-xenos-product-image.ts-1522246708308.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=429%2C0%2C1080%2C1080&w=1920&s=166c3d677851b0576690ed2352f80061"} "ZEISS XENOS - The Reference")
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=640&s=9b4e995528e63e17eece0fa5146216a4","large":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=1280&s=9616a38619a58178d43e6f268e07b01f","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=832&s=2829b0e5b24bcc35b836de7f25a5d86e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/services/dcc/keyvisual_metrology_portal.ts-1605603533845.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=961%2C0%2C639%2C639&w=1920&s=bbe35fca454bfe38b96cc161a5de388e"})