- Home
- Events
- ZEISS Metrology Webinaria
- Webinarium ZEISS O-INSPECT duo
ZEISS O-INSPECT duo
Rozwiązanie 2w1: mikroskop i maszyna pomiarowa
czwartek, 10 października 2024 roku
Z przyjemnościa informujemy, że otrzymaliśmy nominację dla ZEISS O-INSPECT duo do konkursu organizowanego przez magazyn MM Przemysłowy. Celem konkursu celem jest wyłonienie najlepszego rozwiązania dla przemysłu w roku 2024.
Liczymy na wasze głosy! >> Zagłosuj!<<
Poznaj ZEISS O-INSPECT duo podczas poniższego webinarium!
ZEISS O-INSPECT duo łączy dwie technologie w jednym produkcie i zapewnia narzędzie zarówno dla mikroskopii, jak i metrologii (optycznej i stykowej).
Połączenie tych funkcjonalności w jednej maszynie pomaga zautomatyzować procesy, usprawnić konfigurację systemu i dokumentację wyników, a także
zaoszczędzić przestrzeń laboratorium. ZEISS O-INSPECT duo to mikroskop i maszyna pomiarowa w jednym.
System ma możliwość wymiany głowicy optycznej na stykową głowicę skanującą, która umożliwia skanowanie z wysoką dokładnością.
Dzięki rozwiązaniu 2-w-1 ZEISS O-INSPECT duo to trwałe i ekonomiczne rozwiązanie, ponieważ koszty zakupu systemu i późniejszego serwisowania są niższe w porównaniu do dwóch maszyn.
Wykonując zadania pomiarowe i inspekcje na tym samym urządzeniu, można zaoszczędzić czas potrzebny na przygotowanie systemu i mocowanie detalu.
System jest zgodny z normą ISO-10360, zapewnia wiarygodne wyniki pomiarów i porównywalność z dokładnością od 1,5 µm + L/250.
Kolorowa kamera o rozdzielczości 5MP z optyką Discovery.V12 scout 160c oferuje wysoką rozdzielczość przy wielu poziomach powiększenia, co pozwala uchwycić nawet najdrobniejsze szczegóły.
Dzięki rozwiązaniu 2-w-1 ZEISS O-INSPECT duo to trwałe i ekonomiczne rozwiązanie, ponieważ koszty zakupu systemu i późniejszego serwisowania są niższe w porównaniu do dwóch maszyn.
System pozwala na w pełni zautomatyzowane pomiary i inspekcję, obrazowanie i kompletację dokumentacji dużych części oraz pomiary seryjne przy
zachowaniu dużej przepustowości.
Wykonując zadania pomiarowe i inspekcje na tym samym urządzeniu, można zaoszczędzić czas potrzebny na przygotowanie systemu i mocowanie detalu.
Ze względu na zakres pomiarowy 800 × 600 × 300 mm ZEISS O-INSPECT duo to rozwiązanie do inspekcji dużych części lub pomiarów równoległych wielu małych części.
Maksymalne pole widzenia w funkcji badań mikroskopowych to 10,48 x 8,6 mm.
Formularz rejestracyjny
Zarejestruj się, aby wziąć udział
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect-duo/zen_core.ts-1715060170768.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=89bde96f1c83249184ea46c7fb0e0af6","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect-duo/zen_core.ts-1715060170768.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=d7a7ef6c6e9903676ff422029f11803a","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect-duo/zen_core.ts-1715060170768.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=0850b21345b3bcb6bd5e9e1f12b11f52","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/optical/o-inspect-duo/zen_core.ts-1715060170768.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=dbf930cd4de4b2813a5a2677b0a382ec"})