Dedykowany do pomiarów części łatwo odkształcanych ZEISS O-DETECT

Wejdź do świata optycznych pomiarów współrzędnościowych

ZEISS O-DETECT

Intuicyjna obsługa, wysokiej jakości obiektyw i dostowujące się do zadania oświetlenie umożliwiają precyzyjny pomiar w mgnieniu oka. Maszyna nadaje się do szerokiej gamy części, a szczególnie dobrze sprawdza się przy takich, które łatwo ulegają odkształceniom. Odkryj nową generację metrologii optycznej: ZEISS O-DETECT.

Zalety:

Doskonała optyka
Wszechstronny i łatwy w modernizacji
Prosta nawigacja i wizualizacja części
Stabilność i precyzja
Intuicyjne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie
Profesjonalne i wiarygodne raporty

Funkcjonalności

Doskonała optyka

Zoom cyfrowy ZEISS zapewnia szerokie pole widzenia w wysokiej rozdzielczości, zwiększając wydajność i rejestrując więcej szczegółów. Wysokiej jakości obrazy są rejestrowane za pomocą obiektywu o rozdzielczości 5 megapikseli i wraz z technologią przetwarzania ZEISS przekształcają je w precyzyjne wyniki pomiarów.

Wszechstronny i łatwy w modernizacji

Nowy wymienny panel akcesoriów umożliwia szybką zmianę różnych opcji oświetlenia górnego do różnych zastosowań i odbywa się bez interwencji serwisu.

Stabilna precyzja

Maszyna jest kalibrowana do MPE E(3D) zgodnie z normą ISO-10360. Gwarantuje niezawodność i zapewnia porównywalność pomiarów na całym świecie, dostarczając jednocześnie dokładne dane pomiarowe 2D i 3D – cenne na rynkach wymagających wysokich dokładności.arkets.

Prosta nawigacja i wizualizacja części

Zintegrowana kolorowa kamera poglądowa o rozdzielczości 5 megapikseli pozwala szybciej zlokalizować część i rozpocząć pomiary. System sterowany jest komputerowo co zmniejsza potrzebę użycia joysticka.

Profesjonalne i przydatne raporty

Raportowanie w aplikacji ZEISS PiWeb umożliwia dokumentację i wizualizację danych pomiarowych jednym kliknięciem, zapewniając przydatny wgląd w części i procesy.

Szybkie i precyzyjne dotykowe pomiary 3D

W razie potrzeby ZEISS O-DETECT można wyposażyć w stykową głowicę punktową ZEISS XDT, zastosowanie której wproadza pomiary multisensorowe. Zapewnia to jeszcze większą elastyczność maszyny przy rozwiązywaniu zadań pomiarowych.

Intuicyjne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie

Oprogramowanie pomiarowe ZEISS CALYPSO łączy historię i doświadczenie w metrologii. ZEISS CALYPSO express posiada proste środowisko programistyczne, dzięki któremu wejście do świata metrologii optycznej jest tak proste, jak to tylko możliwe.

Wysokiej klasy kamera już w konfiguracji podstawowej

Kluczowym elementem ZEISS O-DETECT jest wysokiej jakości obiektyw. Dzięki zaawansowanemu oprogramowaniu i nowej funkcji autofocus zdjęcia wykonane przez kamerę przekształcają się w precyzyjne wyniki pomiarów.

Szybko, precyzyjnie i intuicyjnie – dzięki pomocniczej kamerze poglądowej

Kolejnym istotnym elementem ZEISS O-DETECT jest pierwsza w swojej klasie kamera poglądowa ze zintegrowanym czujnikiem o rozdzielczości 5 megapikseli. Kamera poglądowa rejestruje cały obszar pomiarowy, łącznie ze wszystkimi przedmiotami umieszczonymi na stole pomiarowym. Uzyskany obraz poglądowy służy do nawigowania obiektywu pomiarowego do odpowiedniej pozycji bez konieczności korzystania z panelu sterującego. Umożliwia to intuicyjne i szybkie programowanie.

Wymienne oświetlenie górne

Wysokiej jakości oświetlenie odgrywa kluczową rolę w uzyskaniu precyzyjnych wyników pomiarów optycznych. Wszechstronny i łatwy w wymianie zespół oświetlenie ZEISS O-DETECT zapewnia najlepsze do tego warunki. Podświetlenie działa automatycznie i zgodnie z ustawieniami zdefiniowanymi przez użytkownika.

Łatwa wymiana

Różne opcje oświetlenia dobrane do zadania

ZEISS O-DETECT pozwala dobrać opcje oświetlenia odpowiednie dla danego wyzwania. Do wyboru jest lampa pierścieniowa do ogólnego oświetlenia górnego części oraz opcję oświetlenia dla błyszczących powierzchni lub zoptymalizowane oświetlenia dla wymagających krawędzi.

Światło przechodzące

Oświetlenie współosiowe

Światło odbite

Szybkie i precyzyjne stykowe pomiary 3D

Dzięki opcji zastosowania głowicy ZEISS XDT możliwe są pomiary stykowe punktowe. Zastosowanie głowicy stykowej umożliwia łatwe dotarcie do bocznych otworów lub podcięć, których nie da się wykryć za pomocą pomiarów optycznych. W zależności od zadania pomiarowego można wymieniać dowolne konfiguracje trzpieni w trybie CNC. ZEISS XDT jest głowicą pasywną i zapewnia powtarzalne wyniki pomiarów, ponieważ dla uzyskania wartości każdego pojedynczego punktu pomiarowego zbierana jest duża liczba punktów pomiarowych i obliczana jest stabilna wartość średnia.

Łatwość obsługi i programowania: ZEISS CALYPSO

Uniwersalne oprogramowanie pomiarowe ZEISS CALYPSO oferuje wysoki stopień elastyczności w przypadku różnych zadań pomiarowych, niezależnie od tego, czy pomiary są proste, czy złożone. ZEISS CALYPSO express dzięki przejrzystemu interfejsowi użytkownika i uporządkowanemu przepływowi pracy umożliwia proste programowanie i jest łatwy w obsłudze. Raportowanie ZEISS PiWeb umożliwia tworzenie profesjonalnych raportów za pomocą zaledwie kilku kliknięć myszką.

ZEISS O-DETECT 3/2/2

300 x 200 x 200 mm³

ZEISS O-DETECT 5/4/3

500 x 400 x 300 mm³

Dane techniczne ZEISS O-DETECT

		O-DETECT 3/2/2	O-DETECT 5/4/3
Obiektyw		ZEISS INVENTA D1	ZEISS INVENTA D1
Objętość pomiarowa		300 x 200 x 200 mm³	500 x 400 x 300 mm³
Pole pomiarowe		8.4 x 7.0 mm²	8.4 x 7.0 mm²
Błąd pomiaru długości MPE (EU)	w 2D	1.9 µm + L/150 µm	1.9 µm + L/150 µm
Błąd pomiaru długości MPE (EU)	w 3D	2.4 µm + L/150 µm	2.4 µm + L/150 µm
Oprogramowanie		ZEISS CALYPSO	ZEISS CALYPSO